Handbok V 0103 · Elektroteknik

Halvledarkomponenter

Halbleiterbauelemente

  • 26 laborationer
  • Handbok · 168 sidor
  • Utgåva 4

Handbok på tyska. Titlarna är översatta; under varje titel står den ursprungliga tyska titeln så som den är tryckt i handboken.

markerar laborationer. Komponenter och apparater för varje laboration kan fällas ut.

  1. Huvuddel

  2. 1 Likriktardioder Gleichrichterdioden s. 1
  3. 1.1 Laboration: PN-övergångens verkan i dioder Wirkung des PN-Übergangs bei Dioden s. 1
    2 komponenter / apparater
  4. 1.2 Laboration: Karakteristikor för dioder av olika halvledarmaterial Kennliniendarstellung von Dioden verschiedener Halbleiterwerkstoffe s. 3
    3 komponenter / apparater
  5. 1.3 Laboration: Enpulsmittpunktskoppling M1 Einpuls-Mittelpunktschaltung M1 s. 5
    4 komponenter / apparater
  6. 1.4 Laboration: Tvåpulsbryggkoppling B2 Zweipuls-Brückenschaltung B2 s. 8
    4 komponenter / apparater
  7. 2 Zenerdioder Z-Dioden s. 11
  8. 2.1 Laboration: Framspännings- och backspänningskarakteristik för zenerdioder Durchlass- und Sperrkennlinie von Z-Dioden s. 11
    2 komponenter / apparater
  9. 2.2 Laboration: Likspänningsbegränsning med zenerdioder Gleichspannungsbegrenzung mit Z-Dioden s. 13
    3 komponenter / apparater
  10. 2.3 Laboration: Serie- och antiseriekoppling av zenerdioder Reihen- und Gegeneinanderschaltung von Z-Dioden s. 19
    3 komponenter / apparater
  11. 2.4 Laboration: Växelspänningsbegränsning och överspänningsskydd med zenerdioder Wechselspannungsbegrenzung und Überspannungsschutz mit Z-Dioden s. 21
    3 komponenter / apparater
  12. 2.5 Laboration: Spänningsstabilisering med zenerdioder Spannungsstabilisierung mit Z-Dioden s. 25
    4 komponenter / apparater
  13. 3 Laboration: Lysdioder Leuchtdioden s. 27
    2 komponenter / apparater
  14. 4 Bipolära transistorer Bipolare Transistoren s. 31
  15. 4.1 Laboration: Kontroll av skiktföljd och likriktarbeteende hos bipolära transistorer Prüfen der Schichtung und des Gleichrichterverhaltens von bipolaren Transistoren s. 31
    3 komponenter / apparater
  16. 4.2 Laboration: Strömfördelning i transistorn och basströmmens styrverkan Stromverteilung im Transistor und Steuerwirkung des Basisstroms s. 35
    3 komponenter / apparater
  17. 4.3 Laboration: Transistorns karakteristikor Die Kennlinien des Transistors s. 39
    3 komponenter / apparater
  18. 4.4 Laboration: Arbetsresistorns inverkan på transistoregenskaperna Einfluss des Arbeitswiderstandes auf die Transistoreigenschaften s. 44
    4 komponenter / apparater
  19. 5 Unipolära transistorer (spärrskikts-fälteffekttransistorer) Unipolare Transistoren (Sperrschicht-Feldeffekt-Transistoren) s. 49
  20. 5.1 Laboration: Kontroll av skiktföljd och likriktarbeteende hos FET Prüfen der Schichtung und des Gleichrichterverhaltens von FETs s. 49
    3 komponenter / apparater
  21. 5.2 Laboration: Framspänningskarakteristik för gatens PN-övergångar hos FET Durchlasskennlinie der PN-Übergänge des Gates bei FETs s. 51
    3 komponenter / apparater
  22. 5.3 Laboration: Gatens styrverkan hos N-kanal-FET Steuerwirkung des Gates beim N-Kanal-FET s. 53
    3 komponenter / apparater
  23. 5.4 Laboration: Utgångskarakteristikor för FET Ausgangskennlinien des FETs s. 56
    3 komponenter / apparater
  24. 6 MOSFET (IGFET) MOS-FET (IG-FET) s. 63
  25. 6.1 Laboration: Gatens styrverkan hos MOSFET av anrikningstyp Steuerwirkung des Gates beim selbstsperrenden MOS-FET s. 63
    3 komponenter / apparater
  26. 6.2 Laboration: Utgångskarakteristikor för MOSFET av anrikningstyp Ausgangskennlinien des selbstsperrenden MOS-FETs s. 67
    3 komponenter / apparater
  27. 7 Unijunctiontransistor (UJT) Unijunction-Transistor (UJT) s. 73
  28. 7.1 Laboration: Kontroll av interbassträckan hos unijunctiontransistorn Prüfen der Interbasisstrecke beim Unijunction-Transistor s. 73
    2 komponenter / apparater
  29. 7.2 Laboration: Omkopplingskarakteristikor för unijunctiontransistorn Schaltkennlinien des Unijunction-Transistors s. 75
    3 komponenter / apparater
  30. 7.3 Laboration: Styrkarakteristikor för unijunctiontransistorn Steuerkennlinien des Unijunction-Transistors s. 78
    3 komponenter / apparater
  31. 8 Tyristorer Thyristoren s. 81
  32. 8.1 Laboration: Tyristordiod (DIAC) Thyristordiode (DIAC) s. 81
    3 komponenter / apparater
  33. 8.2 Laboration: Tyristortriod (tyristor) Thyristortriode (Thyristor) s. 84
    6 komponenter / apparater
  34. 8.3 Laboration: Dubbelriktad tyristor (TRIAC) Zweirichtungsthyristor (TRIAC) s. 89
    4 komponenter / apparater
  35. Lösningsdel

  36. Lösningar L 1 Lösungen L 1 L 56
  37. Bilaga

  38. Bilaga Anhang A 1
  39. Använda förkortningar och formelbeteckningar Verwendete Kurz- und Formelzeichen A 1
  40. Sammanställning av de insticksbara komponenterna Zusammenstellung der steckbaren Bauelemente A 3
  41. Nödvändiga spänningsmatningar och mätinstrument Erforderliche Spannungsversorgungen und Messgeräte A 5
  42. OH-bilder

  43. OH-bild Folie
  44. ELECTRONIC BOARD (typ 1018) ELECTRONIC BOARD (Typ 1018)

Här visas endast innehållsförteckningen (titlar, nummer, sidor). Den fullständiga handboken levereras med utbildningssystemet. Antalen är hämtade från handbokens komponentöversikt.