Manual V 0103 · Electrical Engineering
Halbleiterbauelemente
German manual. Titles are shown in the original language.
marks experiments. Components and devices per experiment can be expanded.
Main part
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1 Gleichrichterdioden p. 1
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1.1 Experiment: Wirkung des PN-Übergangs bei Dioden p. 1
2 components / devices
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1.2 Experiment: Kennliniendarstellung von Dioden verschiedener Halbleiterwerkstoffe p. 3
3 components / devices
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1.3 Experiment: Einpuls-Mittelpunktschaltung M1 p. 5
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1.4 Experiment: Zweipuls-Brückenschaltung B2 p. 8
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2 Z-Dioden p. 11
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2.1 Experiment: Durchlass- und Sperrkennlinie von Z-Dioden p. 11
2 components / devices
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2.2 Experiment: Gleichspannungsbegrenzung mit Z-Dioden p. 13
3 components / devices
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2.3 Experiment: Reihen- und Gegeneinanderschaltung von Z-Dioden p. 19
3 components / devices
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2.4 Experiment: Wechselspannungsbegrenzung und Überspannungsschutz mit Z-Dioden p. 21
3 components / devices
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2.5 Experiment: Spannungsstabilisierung mit Z-Dioden p. 25
4 components / devices
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3 Experiment: Leuchtdioden p. 27
2 components / devices
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4 Bipolare Transistoren p. 31
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4.1 Experiment: Prüfen der Schichtung und des Gleichrichterverhaltens von bipolaren Transistoren p. 31
3 components / devices
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4.2 Experiment: Stromverteilung im Transistor und Steuerwirkung des Basisstroms p. 35
3 components / devices
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4.3 Experiment: Die Kennlinien des Transistors p. 39
3 components / devices
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4.4 Experiment: Einfluss des Arbeitswiderstandes auf die Transistoreigenschaften p. 44
4 components / devices
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5 Unipolare Transistoren (Sperrschicht-Feldeffekt-Transistoren) p. 49
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5.1 Experiment: Prüfen der Schichtung und des Gleichrichterverhaltens von FETs p. 49
3 components / devices
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5.2 Experiment: Durchlasskennlinie der PN-Übergänge des Gates bei FETs p. 51
3 components / devices
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5.3 Experiment: Steuerwirkung des Gates beim N-Kanal-FET p. 53
3 components / devices
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5.4 Experiment: Ausgangskennlinien des FETs p. 56
3 components / devices
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6 MOS-FET (IG-FET) p. 63
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6.1 Experiment: Steuerwirkung des Gates beim selbstsperrenden MOS-FET p. 63
3 components / devices
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6.2 Experiment: Ausgangskennlinien des selbstsperrenden MOS-FETs p. 67
3 components / devices
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7 Unijunction-Transistor (UJT) p. 73
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7.1 Experiment: Prüfen der Interbasisstrecke beim Unijunction-Transistor p. 73
2 components / devices
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7.2 Experiment: Schaltkennlinien des Unijunction-Transistors p. 75
3 components / devices
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7.3 Experiment: Steuerkennlinien des Unijunction-Transistors p. 78
3 components / devices
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8 Thyristoren p. 81
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8.1 Experiment: Thyristordiode (DIAC) p. 81
3 components / devices
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8.2 Experiment: Thyristortriode (Thyristor) p. 84
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8.3 Experiment: Zweirichtungsthyristor (TRIAC) p. 89
4 components / devices
Solutions
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Lösungen L 1 L 56
Appendix
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Anhang A 1
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Verwendete Kurz- und Formelzeichen A 1
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Zusammenstellung der steckbaren Bauelemente A 3
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Erforderliche Spannungsversorgungen und Messgeräte A 5
Transparencies
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Folie
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ELECTRONIC BOARD (Typ 1018)
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