Manual V 0103 · Electrical Engineering

Halbleiterbauelemente

  • 26 experiments
  • Manual · 168 pages
  • Edition 4

German manual. Titles are shown in the original language.

marks experiments. Components and devices per experiment can be expanded.

  1. Main part

  2. 1 Gleichrichterdioden p. 1
  3. 1.1 Experiment: Wirkung des PN-Übergangs bei Dioden p. 1
    2 components / devices
  4. 1.2 Experiment: Kennliniendarstellung von Dioden verschiedener Halbleiterwerkstoffe p. 3
    3 components / devices
  5. 1.3 Experiment: Einpuls-Mittelpunktschaltung M1 p. 5
    4 components / devices
  6. 1.4 Experiment: Zweipuls-Brückenschaltung B2 p. 8
    4 components / devices
  7. 2 Z-Dioden p. 11
  8. 2.1 Experiment: Durchlass- und Sperrkennlinie von Z-Dioden p. 11
    2 components / devices
  9. 2.2 Experiment: Gleichspannungsbegrenzung mit Z-Dioden p. 13
    3 components / devices
  10. 2.3 Experiment: Reihen- und Gegeneinanderschaltung von Z-Dioden p. 19
    3 components / devices
  11. 2.4 Experiment: Wechselspannungsbegrenzung und Überspannungsschutz mit Z-Dioden p. 21
    3 components / devices
  12. 2.5 Experiment: Spannungsstabilisierung mit Z-Dioden p. 25
    4 components / devices
  13. 3 Experiment: Leuchtdioden p. 27
    2 components / devices
  14. 4 Bipolare Transistoren p. 31
  15. 4.1 Experiment: Prüfen der Schichtung und des Gleichrichterverhaltens von bipolaren Transistoren p. 31
    3 components / devices
  16. 4.2 Experiment: Stromverteilung im Transistor und Steuerwirkung des Basisstroms p. 35
    3 components / devices
  17. 4.3 Experiment: Die Kennlinien des Transistors p. 39
    3 components / devices
  18. 4.4 Experiment: Einfluss des Arbeitswiderstandes auf die Transistoreigenschaften p. 44
    4 components / devices
  19. 5 Unipolare Transistoren (Sperrschicht-Feldeffekt-Transistoren) p. 49
  20. 5.1 Experiment: Prüfen der Schichtung und des Gleichrichterverhaltens von FETs p. 49
    3 components / devices
  21. 5.2 Experiment: Durchlasskennlinie der PN-Übergänge des Gates bei FETs p. 51
    3 components / devices
  22. 5.3 Experiment: Steuerwirkung des Gates beim N-Kanal-FET p. 53
    3 components / devices
  23. 5.4 Experiment: Ausgangskennlinien des FETs p. 56
    3 components / devices
  24. 6 MOS-FET (IG-FET) p. 63
  25. 6.1 Experiment: Steuerwirkung des Gates beim selbstsperrenden MOS-FET p. 63
    3 components / devices
  26. 6.2 Experiment: Ausgangskennlinien des selbstsperrenden MOS-FETs p. 67
    3 components / devices
  27. 7 Unijunction-Transistor (UJT) p. 73
  28. 7.1 Experiment: Prüfen der Interbasisstrecke beim Unijunction-Transistor p. 73
    2 components / devices
  29. 7.2 Experiment: Schaltkennlinien des Unijunction-Transistors p. 75
    3 components / devices
  30. 7.3 Experiment: Steuerkennlinien des Unijunction-Transistors p. 78
    3 components / devices
  31. 8 Thyristoren p. 81
  32. 8.1 Experiment: Thyristordiode (DIAC) p. 81
    3 components / devices
  33. 8.2 Experiment: Thyristortriode (Thyristor) p. 84
    6 components / devices
  34. 8.3 Experiment: Zweirichtungsthyristor (TRIAC) p. 89
    4 components / devices
  35. Solutions

  36. Lösungen L 1 L 56
  37. Appendix

  38. Anhang A 1
  39. Verwendete Kurz- und Formelzeichen A 1
  40. Zusammenstellung der steckbaren Bauelemente A 3
  41. Erforderliche Spannungsversorgungen und Messgeräte A 5
  42. Transparencies

  43. Folie
  44. ELECTRONIC BOARD (Typ 1018)

Only the table of contents (titles, numbers, pages) is shown. The complete manual is delivered with the training system. Quantities are taken from the component overview of the manual.