Vadovas V 1652 · Elektrotechnika
DigiLab
Vadovas vokiečių kalba. Pavadinimai išversti; po kiekvienu iš jų pateikiamas originalus vokiškas pavadinimas, kaip jis išspausdintas vadove.
žymi eksperimentus. Kiekvieno eksperimento komponentų ir prietaisų sąrašą galima išskleisti.
-
1 Analoginės ir skaitmeninės technikos palyginimas Gegenüberstellung Analogtechnik – Digitaltechnik 1 psl.
-
1.1 Eksperimentas: Analoginė technika Analogtechnik 1 psl.
-
1.2 Eksperimentas: Skaitmeninė technika Digitaltechnik 2 psl.
-
1.3 Skaitmeninės technikos pradmenys Digitaltechnik elementar 3 psl.
-
1.3.1 Eksperimentas: Loginiai teiginiai – loginės schemos Logische Aussagen – logische Schaltungen 3 psl.
-
1.3.2 Eksperimentas: Dvejetainės ir loginės būsenos Binäre und logische Zustände 4 psl.
-
2 Pagrindinės loginės schemos Logische Grundschaltungen 5 psl.
-
2.1 Funkcija NE Die NICHT-Funktion 5 psl.
-
2.1.1 Eksperimentas: Funkcijos NE tyrimas su DIGILAB Untersuchung der NICHT-Funktion mit dem DIGILAB 6 psl.
-
2.2 Operacija IR Die UND-Verknüpfung 7 psl.
-
2.2.1 Eksperimentas: Kontaktinis funkcijos IR schemos variantas Kontaktbehaftete Schaltungsvariante der UND-Funktion 7 psl.
-
2.2.2 Eksperimentas: Schema IR su diodais UND-Schaltung mit Dioden 8 psl.
-
2.2.3 Eksperimentas: Funkcijos IR tyrimas su TTL mikroschemomis Untersuchung der UND-Funktion mit TTL-Bausteinen 9 psl.
-
2.3 Operacija ARBA Die ODER-Verknüpfung 10 psl.
-
2.3.1 Eksperimentas: Kontaktinis funkcijos ARBA schemos variantas Kontaktbehaftete Schaltungsvariante der ODER-Funktion 11 psl.
-
2.3.2 Eksperimentas: Schema ARBA su diodais ODER-Schaltung mit Dioden 11 psl.
-
2.3.3 Eksperimentas: Funkcijos ARBA tyrimas su TTL mikroschemomis Untersuchung der ODER-Funktion mit TTL-Bausteinen 12 psl.
-
3 TTL mikroschemos praktikoje TTL-Schaltkreise in der Praxis 13 psl.
-
3.1 Pagrindai Grundlagen 13 psl.
-
3.1.1 TTL mikroschemų žymėjimas Bezeichnung von TTL-Bausteinen 14 psl.
-
3.1.2 Bendrieji TTL šeimos elektriniai duomenys Gemeinsame elektrische Daten der TTL-Familie 15 psl.
-
3.2 TTL mikroschemų įtampų vertės Spannungswerte von TTL-Bausteinen 15 psl.
-
3.2.1 Eksperimentas: Leistinosios įėjimo įtampos vertės Zulässige Spannungswerte der Eingangsspannung 15 psl.
-
3.2.2 Eksperimentas: Leistinosios išėjimo įtampos vertės Zulässige Spannungswerte der Ausgangsspannung 15 psl.
-
3.2.3 Eksperimentas: Išėjimo įtampos priklausomybė nuo įėjimo įtampos Ausgangsspannung in Abhängigkeit von der Eingangsspannung 16 psl.
-
3.2.4 Eksperimentas: TTL komponentų darbinės įtampos diapazonai Betriebsspannungsbereiche für TTL-Bauelemente 16 psl.
-
3.3 Pratybų dalis Übungsteil 15 psl.
-
3.3.1 Eksperimentas: Pagrindinių žinių apibendrinimas Auswertung der Grundlagen 17 psl.
-
3.3.2 Eksperimentas: NE elemento perdavimo charakteristikos tyrimas Untersuchung der Übertragungskennlinie eines Negationsgliedes 18 psl.
1 komponentas / prietaisas
-
3.3.3 Eksperimentas: Automatinis perdavimo charakteristikos Uo = f (Uin) matavimas Automatische Aufnahme der Übertragungskennlinie Uo = f (Uin) 20 psl.
-
4 Sudėtiniai pagrindiniai skaitmeninės technikos elementai Zusammengesetze Grundbausteine der Digitaltechnik 21 psl.
-
4.1 Funkcija IR-NE (NAND) Die NAND-Funktion 21 psl.
-
4.1.1 Eksperimentas: Funkcijos IR-NE (NAND) tyrimas Untersuchung der NAND-Funktion 22 psl.
-
4.2 Funkcija ARBA-NE (NOR) Die NOR-Funktion 23 psl.
-
4.2.1 Eksperimentas: Funkcijos ARBA-NE (NOR) tyrimas Untersuchung der NOR-Funktion 24 psl.
-
4.2.2 Eksperimentas: Funkcija IR iš ARBA-NE (NOR) elementų UND-Funktion aus NOR-Gattern 24 psl.
-
4.3 Nelygiavertiškumo funkcija Die Antivalenz-Funktion 25 psl.
-
4.3.1 Eksperimentas: Nelygiavertiškumo funkcijos tyrimas Untersuchung der Antivalenz-Funktion 26 psl.
-
4.3.2 Eksperimentas: Nelygiavertiškumo funkcijos sudarymas iš pagrindinių elementų Zusammensetzung der Antivalenz-Funktion aus Grundbausteinen 26 psl.
-
4.4 Lygiavertiškumo funkcija Die Äquivalenz-Funktion 27 psl.
-
4.4.1 Eksperimentas: Lygiavertiškumo funkcijos tyrimas Untersuchung der Äquivalenz-Funktion 28 psl.
-
4.4.2 Eksperimentas: Lygiavertiškumo funkcijos sudarymas iš pagrindinių elementų Zusammensetzung der Äquivalenz-Funktion aus Grundbausteinen 28 psl.
-
4.4.3 Eksperimentas: Nelygiavertiškumo funkcijos gavimas iš lygiavertiškumo funkcijos Entwicklung von Antivalenz aus Äquivalenz 28 psl.
-
5 Skaitmeninė technika praktikoje Digitaltechnik in der Praxis 29 psl.
-
5.1 Pagrindai Grundlagen 29 psl.
-
5.1.1 Nenaudojami TTL loginių elementų įėjimai Unbenutzte Eingänge von TTL-Gattern 29 psl.
-
5.1.2 Ką reiškia Fan-Out ir Fan-In? Was bedeutet Fan-Out und Fan-In? 29 psl.
-
5.2 Pratybų dalis Übungsteil 30 psl.
-
5.2.1 Eksperimentas: ARBA-NE (NOR) elemento su trimis įėjimais tyrimas Untersuchung eines NOR-Gatters mit drei Eingängen 30 psl.
-
5.2.2 Eksperimentas: IR-NE (NAND) elemento su trimis įėjimais tyrimas Untersuchung eines NAND-Gatters mit drei Eingängen 30 psl.
-
6 Perjungimo algebros dėsniai Die Gesetze der Schaltalgebra 31 psl.
-
6.1 Pagrindai Grundlagen 31 psl.
-
6.1.1 Būlio perjungimo algebra Die Boolesche Schaltalgebra 31 psl.
-
6.1.2 De Morgano dėsniai De Morgansche Gesetze 32 psl.
-
6.2 Pratybų dalis Übungsteil 33 psl.
-
6.2.1 Eksperimentas: Komutatyvumo dėsnių tyrimas Untersuchung der kommutativen Gesetze 33 psl.
-
6.2.2 Eksperimentas: Asociatyvumo dėsnių tyrimas Untersuchung der assoziativen Gesetze 33 psl.
-
6.2.3 Eksperimentas: Distributyvumo dėsnių tyrimas Untersuchung der distributiven Gesetze 34 psl.
-
6.2.4 Eksperimentas: Galimi vieno loginio kintamojo deriniai Mögliche Kombinationen einer Schaltvariablen 34 psl.
-
6.2.5 Eksperimentas: Absorbcijos dėsnių tyrimas Untersuchung der Absorptionsgesetze 35 psl.
-
6.2.6 Eksperimentas: Dvigubo neigimo tyrimas Untersuchung der Doppelten Negation 35 psl.
-
6.2.7 Eksperimentas: De Morgano dėsnių tyrimas Untersuchung der De Morganschen Gesetze 36 psl.
-
7 Nuo teisingumo lentelės iki schemos Von der Wahrheitstabelle zur Schaltung 37 psl.
-
7.1 Skaitmeninių schemų sudarymo būdai Entwicklungsmöglichkeiten für digitale Schaltungen 37 psl.
-
7.1.1 Eksperimentas: Tobuloji disjunkcinė normalioji forma Die vollständige disjunktive Normalform 37 psl.
-
7.1.2 Eksperimentas: Tobuloji konjunkcinė normalioji forma Die vollständige konjunktive Normalform 37 psl.
-
7.1.3 Eksperimentas: Karno diagrama (KV) Das KV-Diagramm 38 psl.
-
7.2 Pratybų dalis Übungsteil 40 psl.
-
7.2.1 Eksperimentas: 1 pratimas Übung 1 40 psl.
-
7.2.2 Eksperimentas: 2 pratimas Übung 2 41 psl.
-
8 Paprastos schemos su loginiais elementais Einfache Schaltungen mit logischen Gattern 42 psl.
-
8.1 Eksperimentas: Laiptinės apšvietimo valdymas Steuerung einer Treppenhausbeleuchtung 42 psl.
-
8.2 Eksperimentas: Atrankos į darbo vietą procedūra Auswahlverfahren für eine Arbeitsstelle 43 psl.
-
8.3 Eksperimentas: Elektros tinklo kontrolė Kontrolle eines Stromnetzes 44 psl.
-
9 Kombinacinių loginių schemų analizė Analyse logischer Schaltnetze 45 psl.
-
9.1 Bendrosios žinios Allgemeines 45 psl.
-
9.2 Eksperimentas: Analizė Analyse 45 psl.
-
9.3 Eksperimentas: Schemos analizė loginiu analizatoriumi Schaltungsanalyse mit einem Logik-Analyser 46 psl.
-
9.4 Pratybų dalis Übungsteil 48 psl.
-
9.4.1 Eksperimentas: Loginės schemos su dviem įėjimais analizė Analyse einer logischen Schaltung mit zwei Eingängen 48 psl.
-
9.4.2 Eksperimentas: Loginės schemos su trimis įėjimais analizė Analyse einer logischen Schaltung mit drei Eingängen 49 psl.
-
10 Bistabilieji elementai Bistabile Elemente 50 psl.
-
10.1 Bendrosios žinios Allgemeines 50 psl.
-
10.2 RS trigeris Das RS-Flipflop 50 psl.
-
10.2.1 Eksperimentas: RS trigeris iš NOR elementų RS-Flipflop aus NOR-Gattern 50 psl.
-
10.2.2 Eksperimentas: RS trigeris iš NAND elementų RS-Flipflop aus NAND-Gattern 51 psl.
-
10.3 Eksperimentas: JK trigeris Das JK-Flipflop 52 psl.
-
10.4 JK master–slave trigeris Das JK-Master-Slave-Flipflop 52 psl.
-
10.4.1 Eksperimentas: Veikimo principas Funktionsweise 52 psl.
-
10.4.2 Eksperimentas: JK trigerio nustatymo ir nulinimo įėjimų tyrimas Untersuchung der Setz- und Rücksetzeingänge des JK-Flipflops 53 psl.
-
10.4.3 Eksperimentas: JK trigerio įėjimų J ir K tyrimas Untersuchung der Eingänge J und K des JK-Flipflops 53 psl.
-
10.4.4 Eksperimentas: JK master–slave trigerio tyrimas Untersuchung des JK-Master-Slave-Flipflops 54 psl.
-
10.5 T trigeris Das T-Flipflop 55 psl.
-
10.5.1 Eksperimentas: Veikimo principas Funktionsweise 55 psl.
-
10.5.2 Eksperimentas: T trigerio tyrimas Untersuchung des T-Flipflops 55 psl.
-
11 Skaitiklių schemos Zählerschaltungen 56 psl.
-
11.1 Bendrosios žinios Allgemeines 56 psl.
-
11.2 Asinchroniniai skaitikliai Asynchrone Zähler 56 psl.
-
11.2.1 Eksperimentas: Asinchroninių skaitiklių veikimo principas Das Prinzip von Asynchronzählern 56 psl.
-
11.2.2 Eksperimentas: Asinchroninio 3 bitų sumuojančiojo skaitiklio tyrimas Untersuchung eines asynchronen 3-Bit-Vorwärtszählers 57 psl.
-
11.2.3 Eksperimentas: Asinchroninis 3 bitų sumuojantysis skaitiklis su matavimo sąsaja Asynchroner 3-Bit-Vorwärtszähler mit dem Messinterface 59 psl.
-
11.2.4 Eksperimentas: Asinchroninis 3 bitų atimantysis skaitiklis su matavimo sąsaja Asynchroner 3-Bit-Rückwärtszähler mit dem Messinterface 60 psl.
-
11.3 Asinchroniniai moduliu n skaičiuojantys skaitikliai Asynchrone Modulo-n-Zähler 61 psl.
-
11.3.1 Eksperimentas: Modulio n skaitiklių veikimo principas Das Prinzip der Modulo-n-Zähler 61 psl.
-
11.3.2 Eksperimentas: Modulio 6 skaitiklio tyrimas su DIGILAB Untersuchung eines Modulo-6-Zählers mit dem DIGILAB 62 psl.
-
11.3.3 Eksperimentas: Modulio 6 skaitiklis su matavimo sąsaja Modulo-6-Zähler mit dem Messinterface 64 psl.
-
11.4 Sinchroniniai skaitikliai Synchrone Zähler 65 psl.
-
11.4.1 Eksperimentas: Sinchroninių skaitiklių veikimo principas Das Prinzip von Synchronzählern 65 psl.
-
11.4.2 Eksperimentas: 3 bitų sinchroninio skaitiklio tyrimas su DIGILAB Untersuchung eines 3-Bit-Synchronzählers mit dem DIGILAB 66 psl.
-
11.4.3 Eksperimentas: 3 bitų sinchroninio skaitiklio tyrimas su matavimo sąsaja Untersuchung eines 3-Bit-Synchronzählers mit dem Messinterface 67 psl.
-
12 Postūmio registrai Schieberegister 68 psl.
-
12.1 Pagrindai Grundlagen 68 psl.
-
12.2 Pratybų dalis Übungsteil 69 psl.
-
12.2.1 Eksperimentas: Nuosekliojo postūmio registro tyrimas su DIGILAB Untersuchung eines seriellen Schieberegisters mit dem DIGILAB 69 psl.
-
12.2.2 Eksperimentas: Nuosekliojo postūmio registro tyrimas su matavimo sąsaja Untersuchung eines seriellen Schieberegisters mit dem Messinterface 70 psl.
-
13 Atminties registrai Speicherregister 71 psl.
-
13.1 Pagrindai Grundlagen 71 psl.
-
13.2 Pratybų dalis Übungsteil 72 psl.
-
13.2.1 Eksperimentas: 3 bitų atminties registro tyrimas su DIGILAB Untersuchung eines 3-Bit-Speicherregisters mit dem DIGILAB 72 psl.
-
13.2.2 Eksperimentas: 3 bitų atminties registro tyrimas su matavimo sąsaja Untersuchung eines 3-Bit-Speicherregisters mit dem Messinterface 73 psl.
-
14 Kodai ir kodų keitikliai Codes & Codeumsetzer 74 psl.
-
14.1 Kodai Codes 74 psl.
-
14.1.1 Eksperimentas: Skaičių kodai Zahlencodes 75 psl.
-
14.1.2 Eksperimentas: Raidiniai skaitmeniniai kodai Alphanumerische Codes 76 psl.
-
14.2 Pratybų dalis Übungsteil 77 psl.
-
14.2.1 Eksperimentas: (8421) BCD / 7 segmentų kodų keitiklis (8421)-BCD / 7-Segment-Codeumsetzer 77 psl.
-
14.2.2 Eksperimentas: 7 segmentų indikatoriaus tyrimas su matavimo sąsaja Untersuchung der 7-Segment-Anzeige mit dem Messinterface 78 psl.
-
14.2.3 Eksperimentas: Pseudotetradų tyrimas su matavimo sąsaja Untersuchung der Pseudotetraden mit dem Messinterface 78 psl.
-
15 Aritmetinės schemos Rechenschaltungen 79 psl.
-
15.1 Pagrindai Grundlagen 79 psl.
-
15.1.1 Bendrosios žinios Allgemeines 79 psl.
-
15.1.2 Pusinis sumatorius Der Halbaddierer 79 psl.
-
15.1.3 Pilnasis sumatorius Der Volladdierer 80 psl.
-
15.2 Pratybų dalis Übungsteil 81 psl.
-
15.2.1 Eksperimentas: Pusinio sumatoriaus tyrimas su DIGILAB Untersuchung eines Halbaddierers mit dem DIGILAB 81 psl.
-
15.2.2 Eksperimentas: Pilnojo sumatoriaus tyrimas su DIGILAB Untersuchung eines Volladdierers mit dem DIGILAB 81 psl.
-
15.2.3 Eksperimentas: Komparatoriaus schemos sudarymas Entwicklung einer Komparatorschaltung 82 psl.
-
16 A/S keitiklis – S/A keitiklis A/D-Umsetzer – D/A-Umsetzer 83 psl.
-
16.1 Analoginis-skaitmeninis keitiklis Analog-Digital-Umsetzer 83 psl.
-
16.1.1 Pagrindai Grundlagen 83 psl.
-
16.1.2 Eksperimentas: Analoginio-skaitmeninio keitimo tyrimas Untersuchung der Analog-Digital-Umsetzung 85 psl.
-
16.1.3 Eksperimentas: Kodų keitiklio sudarymas Entwicklung eines Codeumsetzers 86 psl.
-
16.2 Skaitmeninis-analoginis keitiklis Digital-Analog-Umsetzer 87 psl.
-
16.2.1 Pagrindai Grundlagen 87 psl.
-
16.2.2 Eksperimentas: Skaitmeninio-analoginio keitimo tyrimas Untersuchung der Digital-Analog-Umsetzung 88 psl.
-
16.2.3 Eksperimentas: Analoginės įtampos skaitmeninimas ir kodavimas Digitalisierung und Codierung einer Analogspannung 89 psl.
Filtrą atitinkančių įrašų nėra.
Sprendimų dalis
-
2 Pagrindinės loginės schemos Logische Grundschaltungen L 1
-
2.1 Funkcija NE Die NICHT-Funktion L 1
-
2.1.1 Funkcijos NE tyrimas su DIGILAB Untersuchung der NICHT-Funktion mit dem DIGILAB L 1
-
2.2 Operacija IR Die UND-Verknüpfung L 1
-
2.2.1 Kontaktinis funkcijos IR schemos variantas Kontaktbehaftete Schaltungsvariante der UND-Funktion L 1
-
2.2.2 Schema IR su diodais UND-Schaltung mit Dioden L 1
-
2.2.3 Funkcijos IR tyrimas su TTL mikroschemomis Untersuchung der UND-Funktion mit TTL-Bausteinen L 1
-
2.3 Operacija ARBA Die ODER-Verknüpfung L 2
-
2.3.1 Kontaktinis funkcijos ARBA schemos variantas Kontaktbehaftete Schaltungsvariante der ODER-Funktion L 2
-
2.3.2 Schema ARBA su diodais ODER-Schaltung mit Dioden L 2
-
2.3.3 Funkcijos ARBA tyrimas su TTL mikroschemomis Untersuchung der ODER-Funktion mit TTL-Bausteinen L 2
-
3 TTL mikroschemos praktikoje TTL-Schaltkreise in der Praxis L 3
-
3.3 Pratybų dalis Übungsteil L 3
-
3.3.1 Pagrindinių žinių apibendrinimas Auswertung der Grundlagen L 3
-
3.3.2 NE elemento perdavimo charakteristikos tyrimas Untersuchung der Übertragungskennlinie eines Negationsgliedes L 3
-
3.3.3 Automatinis perdavimo charakteristikos Uo = f (Uin) matavimas Automatische Aufnahme der Übertragungskennlinie Uo = f (Uin) L 4
-
4 Sudėtiniai pagrindiniai skaitmeninės technikos elementai Zusammengesetze Grundbausteine der Digitaltechnik L 5
-
4.1 Funkcija IR-NE (NAND) Die NAND-Funktion L 5
-
4.1.1 Funkcijos IR-NE (NAND) tyrimas Untersuchung der NAND-Funktion L 5
-
4.2 Funkcija ARBA-NE (NOR) Die NOR-Funktion L 5
-
4.2.1 Funkcijos ARBA-NE (NOR) tyrimas Untersuchung der NOR-Funktion L 5
-
4.2.2 Funkcija IR iš ARBA-NE (NOR) elementų UND-Funktion aus NOR-Gattern L 6
-
4.3 Nelygiavertiškumo funkcija Die Antivalenz-Funktion L 6
-
4.3.1 Nelygiavertiškumo funkcijos tyrimas Untersuchung der Antivalenz-Funktion L 6
-
4.3.2 Nelygiavertiškumo funkcijos sudarymas iš pagrindinių elementų Zusammensetzung der Antivalenz-Funktion aus Grundbausteinen L 6
-
4.4 Lygiavertiškumo funkcija Die Äquivalenz-Funktion L 6
-
4.4.1 Lygiavertiškumo funkcijos tyrimas Untersuchung der Äquivalenz-Funktion L 6
-
4.4.2 Lygiavertiškumo funkcijos sudarymas iš pagrindinių elementų Zusammensetzung der Äquivalenz-Funktion aus Grundbausteinen L 7
-
4.4.3 Nelygiavertiškumo funkcijos gavimas iš lygiavertiškumo funkcijos Entwicklung von Antivalenz aus Äquivalenz L 7
-
5 Skaitmeninė technika praktikoje Digitaltechnik in der Praxis L 7
-
5.2 Pratybų dalis Übungsteil L 7
-
5.2.1 ARBA-NE (NOR) elemento su trimis įėjimais tyrimas Untersuchung eines NOR-Gatters mit drei Eingängen L 7
-
5.2.2 IR-NE (NAND) elemento su trimis įėjimais tyrimas Untersuchung eines NAND-Gatters mit drei Eingängen L 8
-
6 Perjungimo algebros dėsniai Die Gesetze der Schaltalgebra L 8
-
6.2 Pratybų dalis Übungsteil L 8
-
6.2.1 Komutatyvumo dėsnių tyrimas Untersuchung der kommutativen Gesetze L 8
-
6.2.2 Asociatyvumo dėsnių tyrimas Untersuchung der assoziativen Gesetze L 8
-
6.2.3 Distributyvumo dėsnių tyrimas Untersuchung der distributiven Gesetze L 9
-
6.2.4 Galimi vieno loginio kintamojo deriniai Mögliche Kombinationen einer Schaltvariablen L 9
-
6.2.5 Absorbcijos dėsnių tyrimas Untersuchung der Absorptionsgesetze L 9
-
6.2.6 Dvigubo neigimo tyrimas Untersuchung der Doppelten Negation L 9
-
6.2.7 De Morgano dėsnių tyrimas Untersuchung der De Morganschen Gesetze L 10
-
7 Nuo teisingumo lentelės iki schemos Von der Wahrheitstabelle zur Schaltung L 10
-
7.2 Pratybų dalis Übungsteil L 10
-
7.2.1 1 pratimas Übung 1 L 10
-
7.2.2 2 pratimas Übung 2 L 11
-
8 Paprastos schemos su loginiais elementais Einfache Schaltungen mit logischen Gattern L 11
-
8.1 Laiptinės apšvietimo valdymas Steuerung einer Treppenhausbeleuchtung L 11
-
8.2 Atrankos į darbo vietą procedūra Auswahlverfahren für eine Arbeitsstelle L 12
-
8.3 Elektros tinklo kontrolė Kontrolle eines Stromnetzes L 12
-
9 Kombinacinių loginių schemų analizė Analyse logischer Schaltnetze L 13
-
9.4 Pratybų dalis Übungsteil L 13
-
9.4.1 Loginės schemos su dviem įėjimais analizė Analyse einer logischen Schaltung mit zwei Eingängen L 13
-
9.4.2 Loginės schemos su trimis įėjimais analizė Analyse einer logischen Schaltung mit drei Eingängen L 14
-
10 Bistabilieji elementai Bistabile Elemente L 16
-
10.2 RS trigeris Das RS-Flipflop L 16
-
10.2.2 RS trigeris iš NAND elementų RS-Flipflop aus NAND-Gattern L 16
-
10.4 JK master–slave trigeris Das JK-Master-Slave-Flipflop L 16
-
10.4.2 JK trigerio nustatymo ir nulinimo įėjimų tyrimas Untersuchung der Setz- und Rücksetzeingänge des JK-Flipflops L 16
-
10.4.3 JK trigerio įėjimų J ir K tyrimas Untersuchung der Eingänge J und K des JK-Flipflops L 16
-
10.4.4 JK master–slave trigerio tyrimas Untersuchung des JK-Master-Slave-Flipflops L 17
-
10.5 T trigeris Das T-Flipflop L 17
-
10.5.2 T trigerio tyrimas Untersuchung des T-Flipflops L 17
-
11 Skaitiklių schemos Zählerschaltungen L 18
-
11.2 Asinchroniniai skaitikliai Asynchrone Zähler L 18
-
11.2.2 Asinchroninio 3 bitų sumuojančiojo skaitiklio tyrimas Untersuchung eines asynchronen 3-Bit-Vorwärtszählers L 18
-
11.2.3 Asinchroninis 3 bitų sumuojantysis skaitiklis su matavimo sąsaja Asynchroner 3-Bit-Vorwärtszähler mit dem Messinterface L 19
-
11.2.4 Asinchroninis 3 bitų atimantysis skaitiklis su matavimo sąsaja Asynchroner 3-Bit-Rückwärtszähler mit dem Messinterface L 19
-
11.3 Asinchroniniai moduliu n skaičiuojantys skaitikliai Asynchrone Modulo-n-Zähler L 20
-
11.3.2 Modulio 6 skaitiklio tyrimas su DIGILAB Untersuchung eines Modulo-6-Zählers mit dem DIGILAB L 20
-
11.3.3 Modulio 6 skaitiklis su matavimo sąsaja Modulo-6-Zähler mit dem Messinterface L 21
-
11.4 Sinchroniniai skaitikliai Synchrone Zähler L 22
-
11.4.2 3 bitų sinchroninio skaitiklio tyrimas su DIGILAB Untersuchung eines 3-Bit-Synchronzählers mit dem DIGILAB L 22
-
11.4.3 3 bitų sinchroninio skaitiklio tyrimas su matavimo sąsaja Untersuchung eines 3-Bit-Synchronzählers mit dem Messinterface L 23
-
12 Postūmio registrai Schieberegister L 23
-
12.2 Pratybų dalis Übungsteil L 23
-
12.2.1 Nuosekliojo postūmio registro tyrimas su DIGILAB Untersuchung eines seriellen Schieberegisters mit dem DIGILAB L 23
-
12.2.2 Nuosekliojo postūmio registro tyrimas su matavimo sąsaja Untersuchung eines seriellen Schieberegisters mit dem Messinterface L 24
-
13 Atminties registrai Speicherregister L 25
-
13.2 Pratybų dalis Übungsteil L 25
-
13.2.1 3 bitų atminties registro tyrimas su DIGILAB Untersuchung eines 3-Bit-Speicherregisters mit dem DIGILAB L 25
-
13.2.2 3 bitų atminties registro tyrimas su matavimo sąsaja Untersuchung eines 3-Bit-Speicherregisters mit dem Messinterface L 25
-
14 Kodai ir kodų keitikliai Codes & Codeumsetzer L 26
-
14.2 Pratybų dalis Übungsteil L 26
-
14.2.1 (8421) BCD / 7 segmentų kodų keitiklis (8421)-BCD / 7-Segment-Codeumsetzer L 26
-
14.2.2 7 segmentų indikatoriaus tyrimas su matavimo sąsaja Untersuchung der 7-Segment-Anzeige mit dem Messinterface L 28
-
14.2.3 Pseudotetradų tyrimas su matavimo sąsaja Untersuchung der Pseudotetraden mit dem Messinterface L 28
-
15 Aritmetinės schemos Rechenschaltungen L 28
-
15.2 Pratybų dalis Übungsteil L 28
-
15.2.1 Pusinio sumatoriaus tyrimas su DIGILAB Untersuchung eines Halbaddierers mit dem DIGILAB L 28
-
15.2.2 Pilnojo sumatoriaus tyrimas su DIGILAB Untersuchung eines Volladdierers mit dem DIGILAB L 28
-
15.2.3 Komparatoriaus schemos sudarymas Entwicklung einer Komparatorschaltung L 29
-
16 A/S keitiklis – S/A keitiklis A/D-Umsetzer – D/A-Umsetzer L 29
-
16.1 Analoginis-skaitmeninis keitiklis Analog-Digital-Umsetzer L 29
-
16.1.2 Analoginio-skaitmeninio keitimo tyrimas Untersuchung der Analog-Digital-Umsetzung L 29
-
16.1.3 Kodų keitiklio sudarymas Entwicklung eines Codeumsetzers L 30
-
16.2 Skaitmeninis-analoginis keitiklis Digital-Analog-Umsetzer L 30
-
16.2.2 Skaitmeninio-analoginio keitimo tyrimas Untersuchung der Digital-Analog-Umsetzung L 30
-
16.2.3 Analoginės įtampos skaitmeninimas ir kodavimas Digitalisierung und Codierung einer Analogspannung L 31
Filtrą atitinkančių įrašų nėra.
Rodomas tik turinys (pavadinimai, numeriai, puslapiai). Vadovas visa apimtimi tiekiamas kartu su mokomąja sistema. Kiekiai nurodyti pagal vadovo komponentų sąrašą.