0

Rokasgrāmata V 1652 · Elektrotehnika

DigiLab

  • 82 eksperimenti
  • Rokasgrāmata · 94 lappuses
  • Risinājumu burtnīca · 36 lappuses
  • Izdevums 1

Rokasgrāmata vācu valodā. Nosaukumi ir tulkoti; zem katra no tiem ir norādīts oriģinālais nosaukums vācu valodā, kā tas iespiests rokasgrāmatā.

apzīmē eksperimentus. Katra eksperimenta komponentus un ierīces var izvērst.

  1. 1 Analogās tehnikas un ciparu tehnikas salīdzinājums Gegenüberstellung Analogtechnik – Digitaltechnik 1. lpp.
  2. 1.1 Eksperiments: Analogā tehnika Analogtechnik 1. lpp.
  3. 1.2 Eksperiments: Ciparu tehnika Digitaltechnik 2. lpp.
  4. 1.3 Ciparu tehnikas pamati Digitaltechnik elementar 3. lpp.
  5. 1.3.1 Eksperiments: Loģiski apgalvojumi – loģiskās shēmas Logische Aussagen – logische Schaltungen 3. lpp.
  6. 1.3.2 Eksperiments: Binārie un loģiskie stāvokļi Binäre und logische Zustände 4. lpp.
  7. 2 Loģiskās pamatshēmas Logische Grundschaltungen 5. lpp.
  8. 2.1 Funkcija NE Die NICHT-Funktion 5. lpp.
  9. 2.1.1 Eksperiments: Funkcijas NE izpēte ar DIGILAB Untersuchung der NICHT-Funktion mit dem DIGILAB 6. lpp.
  10. 2.2 Operācija UN Die UND-Verknüpfung 7. lpp.
  11. 2.2.1 Eksperiments: Funkcijas UN kontaktu shēmas variants Kontaktbehaftete Schaltungsvariante der UND-Funktion 7. lpp.
  12. 2.2.2 Eksperiments: UN shēma ar diodēm UND-Schaltung mit Dioden 8. lpp.
  13. 2.2.3 Eksperiments: Funkcijas UN izpēte ar TTL mikroshēmām Untersuchung der UND-Funktion mit TTL-Bausteinen 9. lpp.
  14. 2.3 Operācija VAI Die ODER-Verknüpfung 10. lpp.
  15. 2.3.1 Eksperiments: Funkcijas VAI kontaktu shēmas variants Kontaktbehaftete Schaltungsvariante der ODER-Funktion 11. lpp.
  16. 2.3.2 Eksperiments: VAI shēma ar diodēm ODER-Schaltung mit Dioden 11. lpp.
  17. 2.3.3 Eksperiments: Funkcijas VAI izpēte ar TTL mikroshēmām Untersuchung der ODER-Funktion mit TTL-Bausteinen 12. lpp.
  18. 3 TTL mikroshēmas praksē TTL-Schaltkreise in der Praxis 13. lpp.
  19. 3.1 Pamati Grundlagen 13. lpp.
  20. 3.1.1 TTL mikroshēmu apzīmējumi Bezeichnung von TTL-Bausteinen 14. lpp.
  21. 3.1.2 TTL saimes kopīgie elektriskie dati Gemeinsame elektrische Daten der TTL-Familie 15. lpp.
  22. 3.2 TTL mikroshēmu sprieguma vērtības Spannungswerte von TTL-Bausteinen 15. lpp.
  23. 3.2.1 Eksperiments: Pieļaujamās ieejas sprieguma vērtības Zulässige Spannungswerte der Eingangsspannung 15. lpp.
  24. 3.2.2 Eksperiments: Pieļaujamās izejas sprieguma vērtības Zulässige Spannungswerte der Ausgangsspannung 15. lpp.
  25. 3.2.3 Eksperiments: Izejas sprieguma atkarība no ieejas sprieguma Ausgangsspannung in Abhängigkeit von der Eingangsspannung 16. lpp.
  26. 3.2.4 Eksperiments: TTL komponentu darba sprieguma diapazoni Betriebsspannungsbereiche für TTL-Bauelemente 16. lpp.
  27. 3.3 Vingrinājumu daļa Übungsteil 15. lpp.
  28. 3.3.1 Eksperiments: Pamatu izvērtēšana Auswertung der Grundlagen 17. lpp.
  29. 3.3.2 Eksperiments: Invertora pārvades raksturlīknes izpēte Untersuchung der Übertragungskennlinie eines Negationsgliedes 18. lpp.
    1 komponents / ierīce
  30. 3.3.3 Eksperiments: Pārvades raksturlīknes Uo = f (Uin) automātiska uzņemšana Automatische Aufnahme der Übertragungskennlinie Uo = f (Uin) 20. lpp.
  31. 4 Saliktie ciparu tehnikas pamatelementi Zusammengesetze Grundbausteine der Digitaltechnik 21. lpp.
  32. 4.1 Funkcija NAND Die NAND-Funktion 21. lpp.
  33. 4.1.1 Eksperiments: Funkcijas NAND izpēte Untersuchung der NAND-Funktion 22. lpp.
  34. 4.2 Funkcija NOR Die NOR-Funktion 23. lpp.
  35. 4.2.1 Eksperiments: Funkcijas NOR izpēte Untersuchung der NOR-Funktion 24. lpp.
  36. 4.2.2 Eksperiments: Funkcija UN no NOR elementiem UND-Funktion aus NOR-Gattern 24. lpp.
  37. 4.3 Antivalences funkcija Die Antivalenz-Funktion 25. lpp.
  38. 4.3.1 Eksperiments: Antivalences funkcijas izpēte Untersuchung der Antivalenz-Funktion 26. lpp.
  39. 4.3.2 Eksperiments: Antivalences funkcijas izveide no pamatelementiem Zusammensetzung der Antivalenz-Funktion aus Grundbausteinen 26. lpp.
  40. 4.4 Ekvivalences funkcija Die Äquivalenz-Funktion 27. lpp.
  41. 4.4.1 Eksperiments: Ekvivalences funkcijas izpēte Untersuchung der Äquivalenz-Funktion 28. lpp.
  42. 4.4.2 Eksperiments: Ekvivalences funkcijas izveide no pamatelementiem Zusammensetzung der Äquivalenz-Funktion aus Grundbausteinen 28. lpp.
  43. 4.4.3 Eksperiments: Antivalences iegūšana no ekvivalences Entwicklung von Antivalenz aus Äquivalenz 28. lpp.
  44. 5 Ciparu tehnika praksē Digitaltechnik in der Praxis 29. lpp.
  45. 5.1 Pamati Grundlagen 29. lpp.
  46. 5.1.1 TTL loģisko elementu neizmantotās ieejas Unbenutzte Eingänge von TTL-Gattern 29. lpp.
  47. 5.1.2 Ko nozīmē Fan-Out un Fan-In? Was bedeutet Fan-Out und Fan-In? 29. lpp.
  48. 5.2 Vingrinājumu daļa Übungsteil 30. lpp.
  49. 5.2.1 Eksperiments: NOR elementa ar trim ieejām izpēte Untersuchung eines NOR-Gatters mit drei Eingängen 30. lpp.
  50. 5.2.2 Eksperiments: NAND elementa ar trim ieejām izpēte Untersuchung eines NAND-Gatters mit drei Eingängen 30. lpp.
  51. 6 Komutācijas algebras likumi Die Gesetze der Schaltalgebra 31. lpp.
  52. 6.1 Pamati Grundlagen 31. lpp.
  53. 6.1.1 Būla komutācijas algebra Die Boolesche Schaltalgebra 31. lpp.
  54. 6.1.2 De Morgana likumi De Morgansche Gesetze 32. lpp.
  55. 6.2 Vingrinājumu daļa Übungsteil 33. lpp.
  56. 6.2.1 Eksperiments: Komutatīvo likumu izpēte Untersuchung der kommutativen Gesetze 33. lpp.
  57. 6.2.2 Eksperiments: Asociatīvo likumu izpēte Untersuchung der assoziativen Gesetze 33. lpp.
  58. 6.2.3 Eksperiments: Distributīvo likumu izpēte Untersuchung der distributiven Gesetze 34. lpp.
  59. 6.2.4 Eksperiments: Viena loģiskā mainīgā iespējamās kombinācijas Mögliche Kombinationen einer Schaltvariablen 34. lpp.
  60. 6.2.5 Eksperiments: Absorbcijas likumu izpēte Untersuchung der Absorptionsgesetze 35. lpp.
  61. 6.2.6 Eksperiments: Dubultās negācijas izpēte Untersuchung der Doppelten Negation 35. lpp.
  62. 6.2.7 Eksperiments: De Morgana likumu izpēte Untersuchung der De Morganschen Gesetze 36. lpp.
  63. 7 No patiesuma tabulas līdz shēmai Von der Wahrheitstabelle zur Schaltung 37. lpp.
  64. 7.1 Ciparu shēmu izstrādes iespējas Entwicklungsmöglichkeiten für digitale Schaltungen 37. lpp.
  65. 7.1.1 Eksperiments: Pilnā disjunktīvā normālforma Die vollständige disjunktive Normalform 37. lpp.
  66. 7.1.2 Eksperiments: Pilnā konjunktīvā normālforma Die vollständige konjunktive Normalform 37. lpp.
  67. 7.1.3 Eksperiments: KV diagramma (Karno karte) Das KV-Diagramm 38. lpp.
  68. 7.2 Vingrinājumu daļa Übungsteil 40. lpp.
  69. 7.2.1 Eksperiments: 1. vingrinājums Übung 1 40. lpp.
  70. 7.2.2 Eksperiments: 2. vingrinājums Übung 2 41. lpp.
  71. 8 Vienkāršas shēmas ar loģiskajiem elementiem Einfache Schaltungen mit logischen Gattern 42. lpp.
  72. 8.1 Eksperiments: Kāpņu telpas apgaismojuma vadība Steuerung einer Treppenhausbeleuchtung 42. lpp.
  73. 8.2 Eksperiments: Darba vietas izvēles procedūra Auswahlverfahren für eine Arbeitsstelle 43. lpp.
  74. 8.3 Eksperiments: Elektrotīkla kontrole Kontrolle eines Stromnetzes 44. lpp.
  75. 9 Kombinacionālo loģisko shēmu analīze Analyse logischer Schaltnetze 45. lpp.
  76. 9.1 Vispārīgi Allgemeines 45. lpp.
  77. 9.2 Eksperiments: Analīze Analyse 45. lpp.
  78. 9.3 Eksperiments: Shēmas analīze ar loģisko analizatoru Schaltungsanalyse mit einem Logik-Analyser 46. lpp.
  79. 9.4 Vingrinājumu daļa Übungsteil 48. lpp.
  80. 9.4.1 Eksperiments: Loģiskās shēmas ar divām ieejām analīze Analyse einer logischen Schaltung mit zwei Eingängen 48. lpp.
  81. 9.4.2 Eksperiments: Loģiskās shēmas ar trim ieejām analīze Analyse einer logischen Schaltung mit drei Eingängen 49. lpp.
  82. 10 Bistabilie elementi Bistabile Elemente 50. lpp.
  83. 10.1 Vispārīgi Allgemeines 50. lpp.
  84. 10.2 RS trigeris Das RS-Flipflop 50. lpp.
  85. 10.2.1 Eksperiments: RS trigeris no NOR elementiem RS-Flipflop aus NOR-Gattern 50. lpp.
  86. 10.2.2 Eksperiments: RS trigeris no NAND elementiem RS-Flipflop aus NAND-Gattern 51. lpp.
  87. 10.3 Eksperiments: JK trigeris Das JK-Flipflop 52. lpp.
  88. 10.4 JK Master-Slave trigeris Das JK-Master-Slave-Flipflop 52. lpp.
  89. 10.4.1 Eksperiments: Darbības princips Funktionsweise 52. lpp.
  90. 10.4.2 Eksperiments: JK trigera iestatīšanas un atiestatīšanas ieeju izpēte Untersuchung der Setz- und Rücksetzeingänge des JK-Flipflops 53. lpp.
  91. 10.4.3 Eksperiments: JK trigera ieeju J un K izpēte Untersuchung der Eingänge J und K des JK-Flipflops 53. lpp.
  92. 10.4.4 Eksperiments: JK Master-Slave trigera izpēte Untersuchung des JK-Master-Slave-Flipflops 54. lpp.
  93. 10.5 T trigeris Das T-Flipflop 55. lpp.
  94. 10.5.1 Eksperiments: Darbības princips Funktionsweise 55. lpp.
  95. 10.5.2 Eksperiments: T trigera izpēte Untersuchung des T-Flipflops 55. lpp.
  96. 11 Skaitītāju shēmas Zählerschaltungen 56. lpp.
  97. 11.1 Vispārīgi Allgemeines 56. lpp.
  98. 11.2 Asinhronie skaitītāji Asynchrone Zähler 56. lpp.
  99. 11.2.1 Eksperiments: Asinhrono skaitītāju darbības princips Das Prinzip von Asynchronzählern 56. lpp.
  100. 11.2.2 Eksperiments: Asinhronā 3 bitu summējošā skaitītāja izpēte Untersuchung eines asynchronen 3-Bit-Vorwärtszählers 57. lpp.
  101. 11.2.3 Eksperiments: Asinhronais 3 bitu summējošais skaitītājs ar mērījumu saskarni Asynchroner 3-Bit-Vorwärtszähler mit dem Messinterface 59. lpp.
  102. 11.2.4 Eksperiments: Asinhronais 3 bitu atņemošais skaitītājs ar mērījumu saskarni Asynchroner 3-Bit-Rückwärtszähler mit dem Messinterface 60. lpp.
  103. 11.3 Asinhronie modulo n skaitītāji Asynchrone Modulo-n-Zähler 61. lpp.
  104. 11.3.1 Eksperiments: Modulo-n skaitītāju darbības princips Das Prinzip der Modulo-n-Zähler 61. lpp.
  105. 11.3.2 Eksperiments: Modulo-6 skaitītāja izpēte ar DIGILAB Untersuchung eines Modulo-6-Zählers mit dem DIGILAB 62. lpp.
  106. 11.3.3 Eksperiments: Modulo-6 skaitītājs ar mērījumu saskarni Modulo-6-Zähler mit dem Messinterface 64. lpp.
  107. 11.4 Sinhronie skaitītāji Synchrone Zähler 65. lpp.
  108. 11.4.1 Eksperiments: Sinhrono skaitītāju darbības princips Das Prinzip von Synchronzählern 65. lpp.
  109. 11.4.2 Eksperiments: 3 bitu sinhronā skaitītāja izpēte ar DIGILAB Untersuchung eines 3-Bit-Synchronzählers mit dem DIGILAB 66. lpp.
  110. 11.4.3 Eksperiments: 3 bitu sinhronā skaitītāja izpēte ar mērījumu saskarni Untersuchung eines 3-Bit-Synchronzählers mit dem Messinterface 67. lpp.
  111. 12 Bīdes reģistri Schieberegister 68. lpp.
  112. 12.1 Pamati Grundlagen 68. lpp.
  113. 12.2 Vingrinājumu daļa Übungsteil 69. lpp.
  114. 12.2.1 Eksperiments: Seriālā bīdes reģistra izpēte ar DIGILAB Untersuchung eines seriellen Schieberegisters mit dem DIGILAB 69. lpp.
  115. 12.2.2 Eksperiments: Seriālā bīdes reģistra izpēte ar mērījumu saskarni Untersuchung eines seriellen Schieberegisters mit dem Messinterface 70. lpp.
  116. 13 Atmiņas reģistri Speicherregister 71. lpp.
  117. 13.1 Pamati Grundlagen 71. lpp.
  118. 13.2 Vingrinājumu daļa Übungsteil 72. lpp.
  119. 13.2.1 Eksperiments: 3 bitu atmiņas reģistra izpēte ar DIGILAB Untersuchung eines 3-Bit-Speicherregisters mit dem DIGILAB 72. lpp.
  120. 13.2.2 Eksperiments: 3 bitu atmiņas reģistra izpēte ar mērījumu saskarni Untersuchung eines 3-Bit-Speicherregisters mit dem Messinterface 73. lpp.
  121. 14 Kodi un kodu pārveidotāji Codes & Codeumsetzer 74. lpp.
  122. 14.1 Kodi Codes 74. lpp.
  123. 14.1.1 Eksperiments: Skaitļu kodi Zahlencodes 75. lpp.
  124. 14.1.2 Eksperiments: Burtciparu kodi Alphanumerische Codes 76. lpp.
  125. 14.2 Vingrinājumu daļa Übungsteil 77. lpp.
  126. 14.2.1 Eksperiments: (8421)-BCD / 7 segmentu koda pārveidotājs (8421)-BCD / 7-Segment-Codeumsetzer 77. lpp.
  127. 14.2.2 Eksperiments: 7 segmentu indikatora izpēte ar mērījumu saskarni Untersuchung der 7-Segment-Anzeige mit dem Messinterface 78. lpp.
  128. 14.2.3 Eksperiments: Pseidotetrāžu izpēte ar mērījumu saskarni Untersuchung der Pseudotetraden mit dem Messinterface 78. lpp.
  129. 15 Aritmētiskās shēmas Rechenschaltungen 79. lpp.
  130. 15.1 Pamati Grundlagen 79. lpp.
  131. 15.1.1 Vispārīgi Allgemeines 79. lpp.
  132. 15.1.2 Pussummators Der Halbaddierer 79. lpp.
  133. 15.1.3 Pilnais summators Der Volladdierer 80. lpp.
  134. 15.2 Vingrinājumu daļa Übungsteil 81. lpp.
  135. 15.2.1 Eksperiments: Pussummatora izpēte ar DIGILAB Untersuchung eines Halbaddierers mit dem DIGILAB 81. lpp.
  136. 15.2.2 Eksperiments: Pilnā summatora izpēte ar DIGILAB Untersuchung eines Volladdierers mit dem DIGILAB 81. lpp.
  137. 15.2.3 Eksperiments: Komparatora shēmas izstrāde Entwicklung einer Komparatorschaltung 82. lpp.
  138. 16 A/D pārveidotājs – D/A pārveidotājs A/D-Umsetzer – D/A-Umsetzer 83. lpp.
  139. 16.1 Analogciparu pārveidotājs Analog-Digital-Umsetzer 83. lpp.
  140. 16.1.1 Pamati Grundlagen 83. lpp.
  141. 16.1.2 Eksperiments: Analogciparu pārveidošanas izpēte Untersuchung der Analog-Digital-Umsetzung 85. lpp.
  142. 16.1.3 Eksperiments: Koda pārveidotāja izstrāde Entwicklung eines Codeumsetzers 86. lpp.
  143. 16.2 Ciparanalogu pārveidotājs Digital-Analog-Umsetzer 87. lpp.
  144. 16.2.1 Pamati Grundlagen 87. lpp.
  145. 16.2.2 Eksperiments: Ciparanalogā pārveidošanas izpēte Untersuchung der Digital-Analog-Umsetzung 88. lpp.
  146. 16.2.3 Eksperiments: Analogā sprieguma ciparošana un kodēšana Digitalisierung und Codierung einer Analogspannung 89. lpp.

Tiek rādīts tikai satura rādītājs (nosaukumi, numuri, lappuses). Pilna rokasgrāmata tiek piegādāta kopā ar mācību sistēmu. Daudzumi ņemti no rokasgrāmatas komponentu pārskata.