0

Handbok V 1652 · Elektroteknik

DigiLab

  • 82 laborationer
  • Handbok · 94 sidor
  • Lösningshäfte · 36 sidor
  • Utgåva 1

Handbok på tyska. Titlarna är översatta; under varje titel står den ursprungliga tyska titeln så som den är tryckt i handboken.

markerar laborationer. Komponenter och apparater för varje laboration kan fällas ut.

  1. 1 Jämförelse analogteknik – digitalteknik Gegenüberstellung Analogtechnik – Digitaltechnik s. 1
  2. 1.1 Laboration: Analogteknik Analogtechnik s. 1
  3. 1.2 Laboration: Digitalteknik Digitaltechnik s. 2
  4. 1.3 Elementär digitalteknik Digitaltechnik elementar s. 3
  5. 1.3.1 Laboration: Logiska utsagor – logiska kretsar Logische Aussagen – logische Schaltungen s. 3
  6. 1.3.2 Laboration: Binära och logiska tillstånd Binäre und logische Zustände s. 4
  7. 2 Logiska grundkretsar Logische Grundschaltungen s. 5
  8. 2.1 ICKE-funktionen Die NICHT-Funktion s. 5
  9. 2.1.1 Laboration: Undersökning av ICKE-funktionen med DIGILAB Untersuchung der NICHT-Funktion mit dem DIGILAB s. 6
  10. 2.2 OCH-funktionen Die UND-Verknüpfung s. 7
  11. 2.2.1 Laboration: OCH-funktionen realiserad med kontakter Kontaktbehaftete Schaltungsvariante der UND-Funktion s. 7
  12. 2.2.2 Laboration: OCH-krets med dioder UND-Schaltung mit Dioden s. 8
  13. 2.2.3 Laboration: Undersökning av OCH-funktionen med TTL-kretsar Untersuchung der UND-Funktion mit TTL-Bausteinen s. 9
  14. 2.3 ELLER-funktionen Die ODER-Verknüpfung s. 10
  15. 2.3.1 Laboration: ELLER-funktionen realiserad med kontakter Kontaktbehaftete Schaltungsvariante der ODER-Funktion s. 11
  16. 2.3.2 Laboration: ELLER-krets med dioder ODER-Schaltung mit Dioden s. 11
  17. 2.3.3 Laboration: Undersökning av ELLER-funktionen med TTL-kretsar Untersuchung der ODER-Funktion mit TTL-Bausteinen s. 12
  18. 3 TTL-kretsar i praktiken TTL-Schaltkreise in der Praxis s. 13
  19. 3.1 Grunder Grundlagen s. 13
  20. 3.1.1 Beteckning av TTL-kretsar Bezeichnung von TTL-Bausteinen s. 14
  21. 3.1.2 Gemensamma elektriska data för TTL-familjen Gemeinsame elektrische Daten der TTL-Familie s. 15
  22. 3.2 Spänningsvärden för TTL-kretsar Spannungswerte von TTL-Bausteinen s. 15
  23. 3.2.1 Laboration: Tillåtna värden för ingångsspänningen Zulässige Spannungswerte der Eingangsspannung s. 15
  24. 3.2.2 Laboration: Tillåtna värden för utgångsspänningen Zulässige Spannungswerte der Ausgangsspannung s. 15
  25. 3.2.3 Laboration: Utgångsspänningen som funktion av ingångsspänningen Ausgangsspannung in Abhängigkeit von der Eingangsspannung s. 16
  26. 3.2.4 Laboration: Driftspänningsområden för TTL-komponenter Betriebsspannungsbereiche für TTL-Bauelemente s. 16
  27. 3.3 Övningsdel Übungsteil s. 15
  28. 3.3.1 Laboration: Utvärdering av grunderna Auswertung der Grundlagen s. 17
  29. 3.3.2 Laboration: Undersökning av överföringskarakteristiken för en inverterare Untersuchung der Übertragungskennlinie eines Negationsgliedes s. 18
    1 komponent / apparat
  30. 3.3.3 Laboration: Automatisk upptagning av överföringskarakteristiken Uo = f (Uin) Automatische Aufnahme der Übertragungskennlinie Uo = f (Uin) s. 20
  31. 4 Sammansatta grundelement inom digitaltekniken Zusammengesetze Grundbausteine der Digitaltechnik s. 21
  32. 4.1 NAND-funktionen Die NAND-Funktion s. 21
  33. 4.1.1 Laboration: Undersökning av NAND-funktionen Untersuchung der NAND-Funktion s. 22
  34. 4.2 NOR-funktionen Die NOR-Funktion s. 23
  35. 4.2.1 Laboration: Undersökning av NOR-funktionen Untersuchung der NOR-Funktion s. 24
  36. 4.2.2 Laboration: OCH-funktion av NOR-grindar UND-Funktion aus NOR-Gattern s. 24
  37. 4.3 XOR-funktionen (antivalens) Die Antivalenz-Funktion s. 25
  38. 4.3.1 Laboration: Undersökning av XOR-funktionen Untersuchung der Antivalenz-Funktion s. 26
  39. 4.3.2 Laboration: XOR-funktionen uppbyggd av grundelement Zusammensetzung der Antivalenz-Funktion aus Grundbausteinen s. 26
  40. 4.4 XNOR-funktionen (ekvivalens) Die Äquivalenz-Funktion s. 27
  41. 4.4.1 Laboration: Undersökning av XNOR-funktionen Untersuchung der Äquivalenz-Funktion s. 28
  42. 4.4.2 Laboration: XNOR-funktionen uppbyggd av grundelement Zusammensetzung der Äquivalenz-Funktion aus Grundbausteinen s. 28
  43. 4.4.3 Laboration: Härledning av antivalens ur ekvivalens Entwicklung von Antivalenz aus Äquivalenz s. 28
  44. 5 Digitalteknik i praktiken Digitaltechnik in der Praxis s. 29
  45. 5.1 Grunder Grundlagen s. 29
  46. 5.1.1 Oanvända ingångar på TTL-grindar Unbenutzte Eingänge von TTL-Gattern s. 29
  47. 5.1.2 Vad betyder fan-out och fan-in? Was bedeutet Fan-Out und Fan-In? s. 29
  48. 5.2 Övningsdel Übungsteil s. 30
  49. 5.2.1 Laboration: Undersökning av en NOR-grind med tre ingångar Untersuchung eines NOR-Gatters mit drei Eingängen s. 30
  50. 5.2.2 Laboration: Undersökning av en NAND-grind med tre ingångar Untersuchung eines NAND-Gatters mit drei Eingängen s. 30
  51. 6 Den booleska algebrans lagar Die Gesetze der Schaltalgebra s. 31
  52. 6.1 Grunder Grundlagen s. 31
  53. 6.1.1 Boolesk algebra Die Boolesche Schaltalgebra s. 31
  54. 6.1.2 De Morgans lagar De Morgansche Gesetze s. 32
  55. 6.2 Övningsdel Übungsteil s. 33
  56. 6.2.1 Laboration: Undersökning av de kommutativa lagarna Untersuchung der kommutativen Gesetze s. 33
  57. 6.2.2 Laboration: Undersökning av de associativa lagarna Untersuchung der assoziativen Gesetze s. 33
  58. 6.2.3 Laboration: Undersökning av de distributiva lagarna Untersuchung der distributiven Gesetze s. 34
  59. 6.2.4 Laboration: Möjliga kombinationer av en kopplingsvariabel Mögliche Kombinationen einer Schaltvariablen s. 34
  60. 6.2.5 Laboration: Undersökning av absorptionslagarna Untersuchung der Absorptionsgesetze s. 35
  61. 6.2.6 Laboration: Undersökning av dubbel negation Untersuchung der Doppelten Negation s. 35
  62. 6.2.7 Laboration: Undersökning av De Morgans lagar Untersuchung der De Morganschen Gesetze s. 36
  63. 7 Från sanningstabell till krets Von der Wahrheitstabelle zur Schaltung s. 37
  64. 7.1 Metoder för att ta fram digitala kretsar Entwicklungsmöglichkeiten für digitale Schaltungen s. 37
  65. 7.1.1 Laboration: Den fullständiga disjunktiva normalformen Die vollständige disjunktive Normalform s. 37
  66. 7.1.2 Laboration: Den fullständiga konjunktiva normalformen Die vollständige konjunktive Normalform s. 37
  67. 7.1.3 Laboration: Karnaughdiagrammet Das KV-Diagramm s. 38
  68. 7.2 Övningsdel Übungsteil s. 40
  69. 7.2.1 Laboration: Övning 1 Übung 1 s. 40
  70. 7.2.2 Laboration: Övning 2 Übung 2 s. 41
  71. 8 Enkla kretsar med logiska grindar Einfache Schaltungen mit logischen Gattern s. 42
  72. 8.1 Laboration: Styrning av en trapphusbelysning Steuerung einer Treppenhausbeleuchtung s. 42
  73. 8.2 Laboration: Urvalsförfarande för en arbetsplats Auswahlverfahren für eine Arbeitsstelle s. 43
  74. 8.3 Laboration: Övervakning av ett elnät Kontrolle eines Stromnetzes s. 44
  75. 9 Analys av kombinatoriska nät Analyse logischer Schaltnetze s. 45
  76. 9.1 Allmänt Allgemeines s. 45
  77. 9.2 Laboration: Analys Analyse s. 45
  78. 9.3 Laboration: Kretsanalys med en logikanalysator Schaltungsanalyse mit einem Logik-Analyser s. 46
  79. 9.4 Övningsdel Übungsteil s. 48
  80. 9.4.1 Laboration: Analys av en logisk krets med två ingångar Analyse einer logischen Schaltung mit zwei Eingängen s. 48
  81. 9.4.2 Laboration: Analys av en logisk krets med tre ingångar Analyse einer logischen Schaltung mit drei Eingängen s. 49
  82. 10 Bistabila element Bistabile Elemente s. 50
  83. 10.1 Allmänt Allgemeines s. 50
  84. 10.2 RS-vippan Das RS-Flipflop s. 50
  85. 10.2.1 Laboration: RS-vippa av NOR-grindar RS-Flipflop aus NOR-Gattern s. 50
  86. 10.2.2 Laboration: RS-vippa av NAND-grindar RS-Flipflop aus NAND-Gattern s. 51
  87. 10.3 Laboration: JK-vippan Das JK-Flipflop s. 52
  88. 10.4 JK-master-slave-vippan Das JK-Master-Slave-Flipflop s. 52
  89. 10.4.1 Laboration: Funktionssätt Funktionsweise s. 52
  90. 10.4.2 Laboration: Undersökning av JK-vippans set- och reset-ingångar Untersuchung der Setz- und Rücksetzeingänge des JK-Flipflops s. 53
  91. 10.4.3 Laboration: Undersökning av JK-vippans ingångar J och K Untersuchung der Eingänge J und K des JK-Flipflops s. 53
  92. 10.4.4 Laboration: Undersökning av JK-master-slave-vippan Untersuchung des JK-Master-Slave-Flipflops s. 54
  93. 10.5 T-vippan Das T-Flipflop s. 55
  94. 10.5.1 Laboration: Funktionssätt Funktionsweise s. 55
  95. 10.5.2 Laboration: Undersökning av T-vippan Untersuchung des T-Flipflops s. 55
  96. 11 Räknarkretsar Zählerschaltungen s. 56
  97. 11.1 Allmänt Allgemeines s. 56
  98. 11.2 Asynkrona räknare Asynchrone Zähler s. 56
  99. 11.2.1 Laboration: Principen för asynkrona räknare Das Prinzip von Asynchronzählern s. 56
  100. 11.2.2 Laboration: Undersökning av en asynkron 3-bitars uppräknare Untersuchung eines asynchronen 3-Bit-Vorwärtszählers s. 57
  101. 11.2.3 Laboration: Asynkron 3-bitars uppräknare med mätgränssnittet Asynchroner 3-Bit-Vorwärtszähler mit dem Messinterface s. 59
  102. 11.2.4 Laboration: Asynkron 3-bitars nedräknare med mätgränssnittet Asynchroner 3-Bit-Rückwärtszähler mit dem Messinterface s. 60
  103. 11.3 Asynkrona modulo-n-räknare Asynchrone Modulo-n-Zähler s. 61
  104. 11.3.1 Laboration: Principen för modulo-n-räknare Das Prinzip der Modulo-n-Zähler s. 61
  105. 11.3.2 Laboration: Undersökning av en modulo-6-räknare med DIGILAB Untersuchung eines Modulo-6-Zählers mit dem DIGILAB s. 62
  106. 11.3.3 Laboration: Modulo-6-räknare med mätgränssnittet Modulo-6-Zähler mit dem Messinterface s. 64
  107. 11.4 Synkrona räknare Synchrone Zähler s. 65
  108. 11.4.1 Laboration: Principen för synkrona räknare Das Prinzip von Synchronzählern s. 65
  109. 11.4.2 Laboration: Undersökning av en synkron 3-bitarsräknare med DIGILAB Untersuchung eines 3-Bit-Synchronzählers mit dem DIGILAB s. 66
  110. 11.4.3 Laboration: Undersökning av en synkron 3-bitarsräknare med mätgränssnittet Untersuchung eines 3-Bit-Synchronzählers mit dem Messinterface s. 67
  111. 12 Skiftregister Schieberegister s. 68
  112. 12.1 Grunder Grundlagen s. 68
  113. 12.2 Övningsdel Übungsteil s. 69
  114. 12.2.1 Laboration: Undersökning av ett seriellt skiftregister med DIGILAB Untersuchung eines seriellen Schieberegisters mit dem DIGILAB s. 69
  115. 12.2.2 Laboration: Undersökning av ett seriellt skiftregister med mätgränssnittet Untersuchung eines seriellen Schieberegisters mit dem Messinterface s. 70
  116. 13 Minnesregister Speicherregister s. 71
  117. 13.1 Grunder Grundlagen s. 71
  118. 13.2 Övningsdel Übungsteil s. 72
  119. 13.2.1 Laboration: Undersökning av ett 3-bitars minnesregister med DIGILAB Untersuchung eines 3-Bit-Speicherregisters mit dem DIGILAB s. 72
  120. 13.2.2 Laboration: Undersökning av ett 3-bitars minnesregister med mätgränssnittet Untersuchung eines 3-Bit-Speicherregisters mit dem Messinterface s. 73
  121. 14 Koder och kodomvandlare Codes & Codeumsetzer s. 74
  122. 14.1 Koder Codes s. 74
  123. 14.1.1 Laboration: Numeriska koder Zahlencodes s. 75
  124. 14.1.2 Laboration: Alfanumeriska koder Alphanumerische Codes s. 76
  125. 14.2 Övningsdel Übungsteil s. 77
  126. 14.2.1 Laboration: (8421)-BCD/7-segment-kodomvandlare (8421)-BCD / 7-Segment-Codeumsetzer s. 77
  127. 14.2.2 Laboration: Undersökning av 7-segmentsdisplayen med mätgränssnittet Untersuchung der 7-Segment-Anzeige mit dem Messinterface s. 78
  128. 14.2.3 Laboration: Undersökning av pseudotetraderna med mätgränssnittet Untersuchung der Pseudotetraden mit dem Messinterface s. 78
  129. 15 Räknekretsar Rechenschaltungen s. 79
  130. 15.1 Grunder Grundlagen s. 79
  131. 15.1.1 Allmänt Allgemeines s. 79
  132. 15.1.2 Halvadderaren Der Halbaddierer s. 79
  133. 15.1.3 Heladderaren Der Volladdierer s. 80
  134. 15.2 Övningsdel Übungsteil s. 81
  135. 15.2.1 Laboration: Undersökning av en halvadderare med DIGILAB Untersuchung eines Halbaddierers mit dem DIGILAB s. 81
  136. 15.2.2 Laboration: Undersökning av en heladderare med DIGILAB Untersuchung eines Volladdierers mit dem DIGILAB s. 81
  137. 15.2.3 Laboration: Utveckling av en komparatorkrets Entwicklung einer Komparatorschaltung s. 82
  138. 16 A/D-omvandlare – D/A-omvandlare A/D-Umsetzer – D/A-Umsetzer s. 83
  139. 16.1 Analog-digitalomvandlare Analog-Digital-Umsetzer s. 83
  140. 16.1.1 Grunder Grundlagen s. 83
  141. 16.1.2 Laboration: Undersökning av analog-digitalomvandlingen Untersuchung der Analog-Digital-Umsetzung s. 85
  142. 16.1.3 Laboration: Utveckling av en kodomvandlare Entwicklung eines Codeumsetzers s. 86
  143. 16.2 Digital-analogomvandlare Digital-Analog-Umsetzer s. 87
  144. 16.2.1 Grunder Grundlagen s. 87
  145. 16.2.2 Laboration: Undersökning av digital-analogomvandlingen Untersuchung der Digital-Analog-Umsetzung s. 88
  146. 16.2.3 Laboration: Digitalisering och kodning av en analog spänning Digitalisierung und Codierung einer Analogspannung s. 89

Här visas endast innehållsförteckningen (titlar, nummer, sidor). Den fullständiga handboken levereras med utbildningssystemet. Antalen är hämtade från handbokens komponentöversikt.