DigiLAB, tipas 1602

Tipas 1602

DigiLAB, tipas 1602

DigiLAB (tipas 1602) – tai įvadas į bitų ir baitų pasaulį, skirtas pagrindiniams skaitmeninės technikos eksperimentams. Reikalingi funkciniai mazgai išdėstyti aiškiai, todėl galima atlikti ir paprastus loginius eksperimentus, ir tirti nuosekliąsias schemas.

  • Pradinė sistema pagrindiniams skaitmeninės technikos eksperimentams
  • Integruoti 3 IR / IR-NE, 3 ARBA / ARBA-NE loginiai elementai, 4 inverteriai, 1 nelygiavertiškumo (XOR) ir 1 lygiavertiškumo (XNOR) elementas
  • Taip pat yra 4 JK trigeriai, 7 segmentų indikatorius, 8 šviesos diodai, 1 mygtukas, rezistorių tinklas ir 2 diodai
  • Kištukų juosta 0/1 lygiams tiesiai plokštėje
  • Prijungus kištukinį maitinimo šaltinį, galima iškart naudoti
  • Pagrindines schemas galima tirti be papildomos matavimo įrangos
Duomenų lapas (PDF)

Įvadas į skaitmeninę techniką

DigiLAB supažindina su skaitmeninių schemų pasauliu ir tam pateikia visus svarbiausius funkcinius mazgus didaktiškai sutvarkyta forma.

Net be papildomos matavimo įrangos tiesiai plokštėje galima tirti pagrindines logines schemas, loginių elementų derinius ir paprastus taikymo pavyzdžius.

Sąranka, signalai ir dokumentavimas

Sudėtingesnėms nuosekliosioms ir taikomosioms schemoms hps rekomenduoja matavimo sąsają (tipas 1620.1). Ja galima keliais kanalais atvaizduoti ir dokumentuoti taktinius ir išėjimo signalus.

Pridedamas pratybų sąsiuvinis apima klasikines perjungimo algebros, skaitiklių ir registrų technikos, kodų keitimo ir signalų keitimo technikos temas.

  • Nuosekliosios ir taikomosios schemos – kartu su hps matavimo sąsaja
Maitinimas
12 V DC iš komplekte esančio kištukinio maitinimo šaltinio
Vidinė maitinimo įtampa
5 V (TTL technika)
Plokštės matmenys
190 x 130 mm
Integruoti funkciniai mazgai
3 IR / IR-NE loginiai elementai, 3 ARBA / ARBA-NE loginiai elementai, 4 inverteriai, 1 nelygiavertiškumo (XOR) elementas, 1 lygiavertiškumo (XNOR) elementas, 4 JK trigeriai, 1 indikatorius (7 segmentų), 8 šviesos diodai, 1 mygtukas, 1 rezistorių tinklas, 2 diodai, kištukų juosta 0/1 lygiams
Rekomenduojama matavimo įranga
hps matavimo sąsaja, tipas 1620.1, nuosekliosioms ir taikomosioms schemoms bei kelių kanalų taktinių ir išėjimo signalų atvaizdavimui ir dokumentavimui

Duomenys paimti iš hps eksperimentų vadovų turinio (pavadinimai, numeriai ir puslapiai). Visi vadovai yra vokiečių kalba; pavadinimai išversti, o originalus vokiškas pavadinimas parodomas užvedus pelės žymeklį. Visi vadovai ir eksperimentai

V 1652 DigiLab Vadovas · Puslapių: 94 82 eksperimentai

Pagrindinis vadovo prietaisas – taikoma visiems eksperimentams Peržiūrėti turinį

  1. 1.1 Analoginė technika 1 psl.
  2. 1.2 Skaitmeninė technika 2 psl.
  3. 1.3.1 Loginiai teiginiai – loginės schemos 3 psl.
  4. 1.3.2 Dvejetainės ir loginės būsenos 4 psl.
  5. 2.1.1 Funkcijos NE tyrimas su DIGILAB 6 psl.
  6. 2.2.1 Kontaktinis funkcijos IR schemos variantas 7 psl.
  7. 2.2.2 Schema IR su diodais 8 psl.
  8. 2.2.3 Funkcijos IR tyrimas su TTL mikroschemomis 9 psl.
  9. 2.3.1 Kontaktinis funkcijos ARBA schemos variantas 11 psl.
  10. 2.3.2 Schema ARBA su diodais 11 psl.
  11. 2.3.3 Funkcijos ARBA tyrimas su TTL mikroschemomis 12 psl.
  12. 3.2.1 Leistinosios įėjimo įtampos vertės 15 psl.
  13. 3.2.2 Leistinosios išėjimo įtampos vertės 15 psl.
  14. 3.2.3 Išėjimo įtampos priklausomybė nuo įėjimo įtampos 16 psl.
  15. 3.2.4 TTL komponentų darbinės įtampos diapazonai 16 psl.
  16. 3.3.1 Pagrindinių žinių apibendrinimas 17 psl.
  17. 3.3.2 NE elemento perdavimo charakteristikos tyrimas 18 psl.
  18. 3.3.3 Automatinis perdavimo charakteristikos Uo = f (Uin) matavimas 20 psl.
  19. 4.1.1 Funkcijos IR-NE (NAND) tyrimas 22 psl.
  20. 4.2.1 Funkcijos ARBA-NE (NOR) tyrimas 24 psl.
  21. 4.2.2 Funkcija IR iš ARBA-NE (NOR) elementų 24 psl.
  22. 4.3.1 Nelygiavertiškumo funkcijos tyrimas 26 psl.
  23. 4.3.2 Nelygiavertiškumo funkcijos sudarymas iš pagrindinių elementų 26 psl.
  24. 4.4.1 Lygiavertiškumo funkcijos tyrimas 28 psl.
  25. 4.4.2 Lygiavertiškumo funkcijos sudarymas iš pagrindinių elementų 28 psl.
  26. 4.4.3 Nelygiavertiškumo funkcijos gavimas iš lygiavertiškumo funkcijos 28 psl.
  27. 5.2.1 ARBA-NE (NOR) elemento su trimis įėjimais tyrimas 30 psl.
  28. 5.2.2 IR-NE (NAND) elemento su trimis įėjimais tyrimas 30 psl.
  29. 6.2.1 Komutatyvumo dėsnių tyrimas 33 psl.
  30. 6.2.2 Asociatyvumo dėsnių tyrimas 33 psl.
  31. 6.2.3 Distributyvumo dėsnių tyrimas 34 psl.
  32. 6.2.4 Galimi vieno loginio kintamojo deriniai 34 psl.
  33. 6.2.5 Absorbcijos dėsnių tyrimas 35 psl.
  34. 6.2.6 Dvigubo neigimo tyrimas 35 psl.
  35. 6.2.7 De Morgano dėsnių tyrimas 36 psl.
  36. 7.1.1 Tobuloji disjunkcinė normalioji forma 37 psl.
  37. 7.1.2 Tobuloji konjunkcinė normalioji forma 37 psl.
  38. 7.1.3 Karno diagrama (KV) 38 psl.
  39. 7.2.1 1 pratimas 40 psl.
  40. 7.2.2 2 pratimas 41 psl.
  41. 8.1 Laiptinės apšvietimo valdymas 42 psl.
  42. 8.2 Atrankos į darbo vietą procedūra 43 psl.
  43. 8.3 Elektros tinklo kontrolė 44 psl.
  44. 9.2 Analizė 45 psl.
  45. 9.3 Schemos analizė loginiu analizatoriumi 46 psl.
  46. 9.4.1 Loginės schemos su dviem įėjimais analizė 48 psl.
  47. 9.4.2 Loginės schemos su trimis įėjimais analizė 49 psl.
  48. 10.2.1 RS trigeris iš NOR elementų 50 psl.
  49. 10.2.2 RS trigeris iš NAND elementų 51 psl.
  50. 10.3 JK trigeris 52 psl.
  51. 10.4.1 Veikimo principas 52 psl.
  52. 10.4.2 JK trigerio nustatymo ir nulinimo įėjimų tyrimas 53 psl.
  53. 10.4.3 JK trigerio įėjimų J ir K tyrimas 53 psl.
  54. 10.4.4 JK master–slave trigerio tyrimas 54 psl.
  55. 10.5.1 Veikimo principas 55 psl.
  56. 10.5.2 T trigerio tyrimas 55 psl.
  57. 11.2.1 Asinchroninių skaitiklių veikimo principas 56 psl.
  58. 11.2.2 Asinchroninio 3 bitų sumuojančiojo skaitiklio tyrimas 57 psl.
  59. 11.2.3 Asinchroninis 3 bitų sumuojantysis skaitiklis su matavimo sąsaja 59 psl.
  60. 11.2.4 Asinchroninis 3 bitų atimantysis skaitiklis su matavimo sąsaja 60 psl.
  61. 11.3.1 Modulio n skaitiklių veikimo principas 61 psl.
  62. 11.3.2 Modulio 6 skaitiklio tyrimas su DIGILAB 62 psl.
  63. 11.3.3 Modulio 6 skaitiklis su matavimo sąsaja 64 psl.
  64. 11.4.1 Sinchroninių skaitiklių veikimo principas 65 psl.
  65. 11.4.2 3 bitų sinchroninio skaitiklio tyrimas su DIGILAB 66 psl.
  66. 11.4.3 3 bitų sinchroninio skaitiklio tyrimas su matavimo sąsaja 67 psl.
  67. 12.2.1 Nuosekliojo postūmio registro tyrimas su DIGILAB 69 psl.
  68. 12.2.2 Nuosekliojo postūmio registro tyrimas su matavimo sąsaja 70 psl.
  69. 13.2.1 3 bitų atminties registro tyrimas su DIGILAB 72 psl.
  70. 13.2.2 3 bitų atminties registro tyrimas su matavimo sąsaja 73 psl.
  71. 14.1.1 Skaičių kodai 75 psl.
  72. 14.1.2 Raidiniai skaitmeniniai kodai 76 psl.
  73. 14.2.1 (8421) BCD / 7 segmentų kodų keitiklis 77 psl.
  74. 14.2.2 7 segmentų indikatoriaus tyrimas su matavimo sąsaja 78 psl.
  75. 14.2.3 Pseudotetradų tyrimas su matavimo sąsaja 78 psl.
  76. 15.2.1 Pusinio sumatoriaus tyrimas su DIGILAB 81 psl.
  77. 15.2.2 Pilnojo sumatoriaus tyrimas su DIGILAB 81 psl.
  78. 15.2.3 Komparatoriaus schemos sudarymas 82 psl.
  79. 16.1.2 Analoginio-skaitmeninio keitimo tyrimas 85 psl.
  80. 16.1.3 Kodų keitiklio sudarymas 86 psl.
  81. 16.2.2 Skaitmeninio-analoginio keitimo tyrimas 88 psl.
  82. 16.2.3 Analoginės įtampos skaitmeninimas ir kodavimas 89 psl.
V 1652 DigiLab Sprendimų knygelė · Puslapių: 36 0 eksperimentų

Pagrindinis vadovo prietaisas – taikoma visiems eksperimentams Peržiūrėti turinį