DigiLAB Type 1602

Type 1602

DigiLAB Type 1602

The DigiLAB Type 1602 is an entry system for the world of bits and bytes and for basic experiments in digital engineering. The required function blocks are clearly arranged and support both basic logic exercises and sequential circuits.

  • Entry system for basic experiments in digital engineering
  • Integrated 3 AND/NAND gates, 3 OR/NOR gates, 4 inverters, 1 antivalence gate and 1 equivalence gate
  • Includes 4 JK flip-flops, 7-segment display, 8 LEDs, pushbutton, resistor network and 2 diodes
  • Patch strip for 0/1 logic levels directly on the board
  • Ready for operation immediately after connecting the plug-in power pack
  • Basic logic circuits possible without additional measuring equipment
Datasheet (PDF)

Introduction to digital technology

The DigiLAB introduces digital circuit design and provides the essential function groups in a didactically clear arrangement.

Even without additional measuring equipment, basic logic circuits, gate combinations and simple applications can be examined directly on the board.

Signals, documentation and advanced work

For sequential and applied circuits, hps recommends the Measuring Interface Type 1620.1. It enables multi-channel display and documentation of clock and output signals.

The accompanying workbook covers classic topics such as switching algebra, counters, registers, code conversion and conversion technology.

  • Sequential and applied circuits in combination with the hps Measuring Interface
Power supply
12 V DC via supplied plug-in power pack
Internal supply voltage
5 V (TTL technology)
Board dimensions
190 x 130 mm
Integrated function groups
3 AND/NAND gates, 3 OR/NOR gates, 4 inverters, 1 antivalence gate, 1 equivalence gate, 4 JK flip-flops, 1 display (7-segment), 8 LEDs, 1 pushbutton, 1 resistor network, 2 diodes, patch strip for 0/1 logic levels
Recommended instruments
hps Measuring Interface Type 1620.1 for sequential and applied circuits and multi-channel display/documentation of clock and output signals

Taken from the tables of contents of the hps experiment manuals (titles, numbers and pages). All manuals are German; titles are shown in the original language. All manuals and experiments

V 1652 DigiLab Manual · 94 pages 82 experiments

Main device of this manual – applies to all experiments View table of contents

  1. 1.1 Analogtechnik p. 1
  2. 1.2 Digitaltechnik p. 2
  3. 1.3.1 Logische Aussagen – logische Schaltungen p. 3
  4. 1.3.2 Binäre und logische Zustände p. 4
  5. 2.1.1 Untersuchung der NICHT-Funktion mit dem DIGILAB p. 6
  6. 2.2.1 Kontaktbehaftete Schaltungsvariante der UND-Funktion p. 7
  7. 2.2.2 UND-Schaltung mit Dioden p. 8
  8. 2.2.3 Untersuchung der UND-Funktion mit TTL-Bausteinen p. 9
  9. 2.3.1 Kontaktbehaftete Schaltungsvariante der ODER-Funktion p. 11
  10. 2.3.2 ODER-Schaltung mit Dioden p. 11
  11. 2.3.3 Untersuchung der ODER-Funktion mit TTL-Bausteinen p. 12
  12. 3.2.1 Zulässige Spannungswerte der Eingangsspannung p. 15
  13. 3.2.2 Zulässige Spannungswerte der Ausgangsspannung p. 15
  14. 3.2.3 Ausgangsspannung in Abhängigkeit von der Eingangsspannung p. 16
  15. 3.2.4 Betriebsspannungsbereiche für TTL-Bauelemente p. 16
  16. 3.3.1 Auswertung der Grundlagen p. 17
  17. 3.3.2 Untersuchung der Übertragungskennlinie eines Negationsgliedes p. 18
  18. 3.3.3 Automatische Aufnahme der Übertragungskennlinie Uo = f (Uin) p. 20
  19. 4.1.1 Untersuchung der NAND-Funktion p. 22
  20. 4.2.1 Untersuchung der NOR-Funktion p. 24
  21. 4.2.2 UND-Funktion aus NOR-Gattern p. 24
  22. 4.3.1 Untersuchung der Antivalenz-Funktion p. 26
  23. 4.3.2 Zusammensetzung der Antivalenz-Funktion aus Grundbausteinen p. 26
  24. 4.4.1 Untersuchung der Äquivalenz-Funktion p. 28
  25. 4.4.2 Zusammensetzung der Äquivalenz-Funktion aus Grundbausteinen p. 28
  26. 4.4.3 Entwicklung von Antivalenz aus Äquivalenz p. 28
  27. 5.2.1 Untersuchung eines NOR-Gatters mit drei Eingängen p. 30
  28. 5.2.2 Untersuchung eines NAND-Gatters mit drei Eingängen p. 30
  29. 6.2.1 Untersuchung der kommutativen Gesetze p. 33
  30. 6.2.2 Untersuchung der assoziativen Gesetze p. 33
  31. 6.2.3 Untersuchung der distributiven Gesetze p. 34
  32. 6.2.4 Mögliche Kombinationen einer Schaltvariablen p. 34
  33. 6.2.5 Untersuchung der Absorptionsgesetze p. 35
  34. 6.2.6 Untersuchung der Doppelten Negation p. 35
  35. 6.2.7 Untersuchung der De Morganschen Gesetze p. 36
  36. 7.1.1 Die vollständige disjunktive Normalform p. 37
  37. 7.1.2 Die vollständige konjunktive Normalform p. 37
  38. 7.1.3 Das KV-Diagramm p. 38
  39. 7.2.1 Übung 1 p. 40
  40. 7.2.2 Übung 2 p. 41
  41. 8.1 Steuerung einer Treppenhausbeleuchtung p. 42
  42. 8.2 Auswahlverfahren für eine Arbeitsstelle p. 43
  43. 8.3 Kontrolle eines Stromnetzes p. 44
  44. 9.2 Analyse p. 45
  45. 9.3 Schaltungsanalyse mit einem Logik-Analyser p. 46
  46. 9.4.1 Analyse einer logischen Schaltung mit zwei Eingängen p. 48
  47. 9.4.2 Analyse einer logischen Schaltung mit drei Eingängen p. 49
  48. 10.2.1 RS-Flipflop aus NOR-Gattern p. 50
  49. 10.2.2 RS-Flipflop aus NAND-Gattern p. 51
  50. 10.3 Das JK-Flipflop p. 52
  51. 10.4.1 Funktionsweise p. 52
  52. 10.4.2 Untersuchung der Setz- und Rücksetzeingänge des JK-Flipflops p. 53
  53. 10.4.3 Untersuchung der Eingänge J und K des JK-Flipflops p. 53
  54. 10.4.4 Untersuchung des JK-Master-Slave-Flipflops p. 54
  55. 10.5.1 Funktionsweise p. 55
  56. 10.5.2 Untersuchung des T-Flipflops p. 55
  57. 11.2.1 Das Prinzip von Asynchronzählern p. 56
  58. 11.2.2 Untersuchung eines asynchronen 3-Bit-Vorwärtszählers p. 57
  59. 11.2.3 Asynchroner 3-Bit-Vorwärtszähler mit dem Messinterface p. 59
  60. 11.2.4 Asynchroner 3-Bit-Rückwärtszähler mit dem Messinterface p. 60
  61. 11.3.1 Das Prinzip der Modulo-n-Zähler p. 61
  62. 11.3.2 Untersuchung eines Modulo-6-Zählers mit dem DIGILAB p. 62
  63. 11.3.3 Modulo-6-Zähler mit dem Messinterface p. 64
  64. 11.4.1 Das Prinzip von Synchronzählern p. 65
  65. 11.4.2 Untersuchung eines 3-Bit-Synchronzählers mit dem DIGILAB p. 66
  66. 11.4.3 Untersuchung eines 3-Bit-Synchronzählers mit dem Messinterface p. 67
  67. 12.2.1 Untersuchung eines seriellen Schieberegisters mit dem DIGILAB p. 69
  68. 12.2.2 Untersuchung eines seriellen Schieberegisters mit dem Messinterface p. 70
  69. 13.2.1 Untersuchung eines 3-Bit-Speicherregisters mit dem DIGILAB p. 72
  70. 13.2.2 Untersuchung eines 3-Bit-Speicherregisters mit dem Messinterface p. 73
  71. 14.1.1 Zahlencodes p. 75
  72. 14.1.2 Alphanumerische Codes p. 76
  73. 14.2.1 (8421)-BCD / 7-Segment-Codeumsetzer p. 77
  74. 14.2.2 Untersuchung der 7-Segment-Anzeige mit dem Messinterface p. 78
  75. 14.2.3 Untersuchung der Pseudotetraden mit dem Messinterface p. 78
  76. 15.2.1 Untersuchung eines Halbaddierers mit dem DIGILAB p. 81
  77. 15.2.2 Untersuchung eines Volladdierers mit dem DIGILAB p. 81
  78. 15.2.3 Entwicklung einer Komparatorschaltung p. 82
  79. 16.1.2 Untersuchung der Analog-Digital-Umsetzung p. 85
  80. 16.1.3 Entwicklung eines Codeumsetzers p. 86
  81. 16.2.2 Untersuchung der Digital-Analog-Umsetzung p. 88
  82. 16.2.3 Digitalisierung und Codierung einer Analogspannung p. 89
V 1652 DigiLab Solutions · 36 pages 0 experiments

Main device of this manual – applies to all experiments View table of contents