Handbuch V 0160 · Digitaltechnik
Versuche zur Digitaltechnik
markiert Versuche. Bauelemente und Geräte je Versuch lassen sich aufklappen.
Hauptteil
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1 Logische Grundschaltungen S. 3
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1.1 Grundlagen S. 3
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1.1.1 Darstellungsformen und Hilfsmittel S. 3
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1.1.2 Gesetze der Schaltalgebra S. 5
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1.1.3 Vollständige disjunktive Normalform S. 6
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1.1.4 Vollständige konjunktive Normalform S. 6
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1.1.5 KV-Diagramme S. 7
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1.1.6 Logikfunktionen mit NOR- und NAND Elementen S. 8
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1.2 Versuchsteil S. 9
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1.2.1 Versuch: Wichtige binäre Verknüpfungen S. 9
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1.2.2 Versuch: Gesetze der Schaltalgebra S. 10
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1.2.3 Versuch: Disjunktive und konjunktive Normalform S. 15
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1.2.4 Versuch: Schaltungsentwurf mit Hilfe von KV-Diagrammen S. 17
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1.2.5 Versuch: Darstellung von Schaltnetzen in NAND bzw. NOR-Technik S. 19
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1.2.6 Versuch: Äquivalenz S. 22
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1.2.7 Versuch: Antivalenz S. 23
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1.2.8 Versuch: Arbeiten mit TTL-Bausteinen S. 24
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2 Schmitt-Trigger S. 27
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2.1 Grundlagen S. 27
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2.2 Versuch: Versuchsteil S. 28
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3 Bistabile Kippstufen S. 29
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3.1 Grundlagen S. 29
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3.1.1 Allgemeines S. 29
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3.1.2 Asynchrone Flipflops S. 29
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3.1.3 Synchrone Flipflops S. 31
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3.2 Versuchsteil S. 33
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3.2.1 Versuch: RS-Flipflop aus NOR-Gattern S. 33
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3.2.2 Versuch: RS-Flipflop aus NAND-Gattern S. 34
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3.2.3 Versuch: Taktzustandsgesteuerte RS-Flipflops S. 35
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3.2.4 Versuch: RS-Flipflops mit dominierendem S- oder R-Eingang S. 36
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3.2.5 Versuch: D-Flipflops S. 37
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3.2.6 Versuch: Einflankengesteuertes RS-Flipflop S. 38
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3.2.7 Versuch: Zweizustandsgesteuertes D-Flipflop S. 41
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3.2.8 Versuch: Einflankengesteuertes JK-Flipflop S. 42
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4 Monostabile Kippstufen S. 47
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4.1 Grundlagen S. 47
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4.2 Versuchsteil S. 48
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4.2.1 Versuch: Das Monoflop des Digitalen Trainings systems S. 48
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4.2.2 Versuch: Verzögerungsschaltungen S. 49
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5 Codeumsetzer, Codierer S. 53
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5.1 Grundlagen S. 53
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5.1.1 Allgemeines S. 53
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5.1.2 8421-BCD / 3-Exzeß-Codeumsetzer S. 53
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5.2 Versuchsteil S. 56
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5.2.1 Versuch: 8421-BCD / Dezimal-Codeumsetzer S. 56
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5.2.2 Versuch: 8421-BCD / 7-Segment-Codeumsetzer S. 58
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5.2.3 Versuch: Codiererschaltungen S. 61
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6 Rechenschaltungen S. 63
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6.1 Grundlagen S. 63
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6.1.1 Allgemeines S. 63
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6.1.2 Halbaddierer S. 63
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6.1.3 Volladdierer S. 64
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6.1.4 Korrekturaddition bei Dezimalzahlen S. 65
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6.1.5 Subtrahierer für Dualzahlen S. 66
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6.2 Versuchsteil S. 68
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6.2.1 Versuch: Halbaddierer S. 68
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6.2.2 Versuch: Volladdierer S. 70
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6.2.3 Versuch: Addierschaltungen für den 8421-BCD-Code S. 72
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6.2.4 Versuch: Halbsubtrahierer S. 77
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6.2.5 Versuch: Vollsubtrahierer S. 78
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6.2.6 Versuch: Subtrahierer für Dualzahlen S. 81
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6.2.7 Versuch: 2-Bit-Parallel-Multiplikationsschaltung S. 83
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6.2.8 Versuch: Rechenwerk für 4-Bit-Dualzahlen S. 85
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7 Zählschaltungen S. 87
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7.1 Grundlagen S. 87
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7.1.1 Allgemeines S. 87
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7.1.2 Asynchronzähler S. 87
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7.1.3 Synchronzähler S. 88
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7.1.4 Modulo-n-Zähler S. 90
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7.1.5 Programmierbare Zähler S. 91
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7.2 Versuchsteil S. 92
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7.2.1 Versuch: Asynchrone Vorwärtszähler S. 92
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7.2.2 Versuch: Asynchrone Rückwärtszähler S. 94
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7.2.3 Versuch: Asynchrone Umkehrzähler S. 96
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7.2.4 Versuch: Asynchrone Modulo-n-Zähler S. 97
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7.2.5 Versuch: Synchronzähler S. 99
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7.2.6 Versuch: Programmierbare Zähler S. 102
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8 Registerschaltungen S. 105
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8.1 Grundlagen S. 105
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8.1.1 Allgemeines S. 105
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8.1.2 Schieberegister S. 105
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8.1.3 Universalschieberegister S. 106
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8.2 Versuchsteil S. 107
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8.2.1 Versuch: JK-Schieberegister S. 107
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8.2.2 Versuch: Schieberegister mit paralleler Dateneingabe S. 109
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8.2.3 Versuch: Serielle Datenübertragung S. 111
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9 Multiplexbetrieb S. 115
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9.1 Grundlagen S. 115
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9.2 Versuch: Versuchsteil S. 117
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10 Arithmetisch-logische Einheit S. 121
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10.1 Grundlagen S. 121
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10.1.1 Allgemeines S. 121
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10.1.2 Zusammenwirken von ALU und Akkumulator S. 121
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10.1.3 Rechenwerkbaustein 74HC / HCT181 S. 122
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10.2 Versuchsteil S. 124
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10.2.1 Versuch: Arithmetische Operationen S. 124
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10.2.2 Versuch: ALU mit Akkumulator S. 126
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11 Speicherschaltungen S. 129
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11.1 Grundlagen S. 129
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11.1.1 Allgemeines S. 129
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11.1.2 Erweiterung der Wortbreite S. 129
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11.1.3 Erweiterung der Anzahl der Speicher plätze S. 130
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11.1.4 Speicherbausteine RAM 8 x 4 und EEPROM 8 x 4 S. 131
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11.2 Versuchsteil S. 132
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11.2.1 Versuch: Beschreiben und Lesen von Speicher bausteinen S. 132
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11.2.2 Versuch: Wortbreite S. 134
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11.2.3 Versuch: Speicherkapazität S. 137
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12 Analog-Digital-Umsetzer, Digital Analog-Umsetzer S. 139
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12.1 Grundlagen S. 139
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12.1.1 Allgemeines S. 139
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12.1.2 Analog-Digital-Umsetzer S. 139
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12.1.3 Digital-Analog-Umsetzer S. 140
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12.2 Versuchsteil S. 141
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12.2.1 Versuch: Analog-Digital-Umsetzung S. 141
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12.2.2 Versuch: Digital-Analog-Umsetzung S. 144
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12.2.3 Versuch: Signalübertragung S. 146
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12.2.4 Versuch: Digitaler Funktionsgenerator S. 148
Lösungsteil
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Lösungsteil L 1
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1 Logische Grundschaltungen L 1
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2 Schmitt-Trigger L 9
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3 Bistabile Kippstufen L 11
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4 Monostabile Kippstufen L 17
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5 Codeumsetzer, Codierer L 19
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6 Rechenschaltungen L 25
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7 Zählschaltungen L 37
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8 Registerschaltungen L 45
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9 Multiplexbetrieb L 51
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10 Arithmetisch-logische Einheit L 53
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11 Speicherschaltungen L 55
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12 Analog-Digital-Umsetzer, Digital Analog-Umsetzer L 59
Anhang
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Anhang A 1
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1 Formelzeichen A 1
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2 Verwendete Meßgeräte A 2
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3 Literaturhinweise A 2
Folien
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Folien
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DIGI MODULE BOARD (Typ 3930)
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